[实用新型]半导体照明灯光光型检测装置

说明书

本实用新型提供一种半导体照明灯光光型检测装置，包括检测台，所述检测台上设置有半导体照明安装台，半导体照明灯安装在半导体照明安装台上，所述半导体照明安装台旁设置有供电电源，通过供电电源为半导体照明安装台提供电能，所述检测台上方设置有遮光罩，所述遮光罩上端设置有设置有升降气缸，所述遮光罩内部上端设置有光型板，所述半导体照明安装台旁设置有照相机。通过半导体照明安装台对半导体照明灯进行安装，并通过升降气缸带动遮光罩下降，对半导体照明安装台进行遮光，并点亮半导体照明灯，在光型板上形成光型，并由照相机拍摄下来，并对比正确的光型图，完成光型检测工作，提高检测效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体产品检测领域，尤其涉及一种半导体照明灯光光型检测装置。

背景技术

目前在半导体照明时，需要半导体的照明光型达到要求才能使用，而目前在对半导体照明灯进行光型检测时，通常是在暗室内点亮半导体照明灯，并人工对光型进行观察，但是上述工作的工作效率较低，并且不能进行大批量的检测工作，在半导体照明灯的检测工作上费时费力。因此，解决半导体照明灯光型检测工作效率低下且无法大批量检测的问题就显得尤为重要了。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供了一种半导体照明灯光光型检测装置，通过半导体照明安装台对半导体照明灯进行安装，并通过升降气缸带动遮光罩下降，对半导体照明安装台进行遮光，并点亮半导体照明灯，在光型板上形成光型，并由照相机拍摄下来，并对比正确的光型图，完成光型检测工作，解决了半导体照明灯光型检测工作效率低下且无法大批量检测的问题。

本实用新型提供一种半导体照明灯光光型检测装置，包括检测台，所述检测台上设置有半导体照明安装台，半导体照明灯安装在半导体照明安装台上，所述半导体照明安装台旁设置有供电电源，通过供电电源为半导体照明安装台提供电能，所述检测台上方设置有遮光罩，所述遮光罩上端设置有设置有升降气缸，所述遮光罩内部上端设置有光型板，所述半导体照明安装台旁设置有照相机。

进一步改进在于：所述检测台上设置有控制按钮，所述控制按钮与升降气缸相关联。

进一步改进在于：所述遮光罩上设置有显示屏，所述显示屏与照相机相关联，将照相机拍摄的照片在显示屏上显示。

进一步改进在于：所述显示屏旁设置有样本放置槽，将正确的光型图案照片放置在样本放置槽内，便于进行光型对比。

本实用新型的有益效果是：通过半导体照明安装台对半导体照明灯进行安装，并通过升降气缸带动遮光罩下降，对半导体照明安装台进行遮光，并点亮半导体照明灯，在光型板上形成光型，并由照相机拍摄下来，并对比正确的光型图，完成光型检测工作，提高检测效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

其中：1-检测台，2-半导体照明安装台，3-供电电源，4-遮光罩，5-升降气缸，6-光型板，7-照相机，8-控制按钮，9-显示屏，10-样本放置槽。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的理解，下面将结合实施例对本实用新型作进一步的详述，本实施例仅用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型保护范围的限定。

如图1所示，本实施例提供了一种半导体照明灯光光型检测装置，包括检测台1，所述检测台1上设置有半导体照明安装台2，半导体照明灯安装在半导体照明安装台2上，所述半导体照明安装台2旁设置有供电电源3，通过供电电源3为半导体照明安装台2提供电能，所述检测台1上方设置有遮光罩4，所述遮光罩4上端设置有设置有升降气缸5，所述遮光罩4内部上端设置有光型板6，所述半导体照明安装台2旁设置有照相机7。所述检测台1上设置有控制按钮8，所述控制按钮8与升降气缸5相关联。所述遮光罩4上设置有显示屏9，所述显示屏9与照相机7相关联，将照相机7拍摄的照片在显示屏9上显示。所述显示屏9旁设置有样本放置槽10，将正确的光型图案照片放置在样本放置槽10内，便于进行光型对比。通过半导体照明安装台2对半导体照明灯进行安装，并通过升降气缸5带动遮光罩4下降，对半导体照明安装台2进行遮光，并点亮半导体照明灯，在光型板6上形成光型，并由照相机7拍摄下来，并对比正确的光型图，完成光型检测工作，提高检测效率。