[实用新型]一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备

说明书

本实用新型提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，包括一测试台装置，测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；点光源安装在测试平台的上方；遮光围挡安装在测试平台的上方，遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，点光源位于镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，待测膜夹片装置覆盖在遮光围挡的上方；待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，载膜片设置在压膜片的下方。通过测试台装置与待测膜夹片装置，使待检测光学膜与点光源之间保持确定的间距，从而在待测光学膜的上方呈现出特定的圆形光斑，通过测量圆形光斑的直径尺寸或者圆度，来判断待检测光学膜中是否合格。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，具体涉及光学检测装置。

背景技术

目前，人们已经能够制作出直径非常小的透镜与透镜阵列，这种透镜与透镜阵列通常是不能被人眼识别的，只有用显微镜、扫描电镜、原子力显微镜等设备才能观察到，这就是微透镜和微透镜阵列。

3D动态立体显示防伪光学膜片，是一类微透镜阵列与阵列图像或文字相结合的防伪用光学膜片产品。产品突破了传统的微缩技术，利用莫尔放大-焦平面成像原理，通过构筑有序的微透镜阵列，使膜片呈现出独特的3D立体景深效果。光学膜片移动时，图形神似水面滑动，左右运动时图形在垂直方向做反向正交滑动，上下转动时图形左右运动，实现了动态立体显示。

然而，在现实生产过程中，用于生产3D动态立体显示防伪光学膜片的微透镜阵列微结构光学膜，并没有很好的检测手段，来判断其内部微透镜阵列是否合格，采用放大镜只能逐个观察细微结构，并不能很好的确定宏观上微透镜阵列里面的微透镜是否畸变，阵列是否均匀一致；只能采用小批量试制的方法，试制成3D动态立体显示防伪光学膜片，通过成品的视觉观察，来判断该批次微透镜阵列微结构光学膜是否合格，再来组织批量生产。

而微透镜阵列微结构光学膜的生产过程中存在诸多不确定因素，如果仅能通过采用试制的方式来判断微透镜阵列微结构光学膜的质量好坏，显然对微透镜阵列微结构光学膜的生产企业存在着太大的风险。

因此，急需开发出一种微透镜阵列微结构光学膜检测设备，来宏观的、快捷的判断膜内微透镜阵列的结构好坏、及微结构畸变趋势，用来反馈生产过程，及时进行在产产品的调整，提高成品率，降低质量风险。

实用新型内容

针对现有技术存在的问题，本实用新型提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，已解决上述至少一个技术问题。

本实用新型的技术方案是：一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；

所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；

所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；

还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；

所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方。

本专利通过测试台装置与待测膜夹片装置共同作用，可以使待检测光学膜与所述点光源之间保持确定的间距，及平行，从而在待测光学膜的上方呈现出特定的圆形光斑，通过测量所述圆形光斑的直径尺寸，或者圆度，可以来判断所述待检测光学膜中微结构的形状及一致性是否合格。

待检测光学膜包括一PET基材以及涂布在PET基材表面的微透镜阵列结构。检测时，PET 基材位于微投资阵列结构的下方进行放置。