[实用新型]一种带激光切割功能的芯片抽检机的控制系统

说明书

一种带激光切割功能的芯片抽检机的控制系统，包括控制器和与控制器连接的输入单元、料盒机构控制单元、推料机构控制单元、取料机构控制单元、运输机构控制单元、显微镜机构控制单元、激光切割机构控制单元，输入单元用于输入信息；料盒机构控制单元用于控制料盒机构的上下、X方向、Y方向的调节；运输机构控制单元用于控制运输机构将芯片条带运送到显微镜机构下观察或运送到激光切割机构下切割或打标；显微镜机构控制单元用于控制显微镜机构观察角度的调节。本控制系统可有控制带激光切割功能的芯片抽检机完成芯片条带的选择、夹取、运输、观察、切割或打标，全过程都不需要用手接触芯片条带，避免了对芯片的人为二次损坏。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片抽检机的控制系统，具体涉及一种带激光切割功能的芯片抽检机的控制系统。

背景技术

电子芯片封装前需要对线弧、焊球等进行检验，避免线弧和焊球缺陷对芯片性能和良率的影响。芯片条带封装前不能用手接触，否则容易造成人为的对芯片二次损坏。传统的芯片条带检验，都是检验人员用手拉动芯片条带到显微镜下观察，对于有质量缺陷的芯片元件，还需要人为手工勾线弧，也就造成了手接触芯片条带，对芯片条带的二次损坏；另外，人眼长期在显微镜下观察，容易疲倦，损伤眼睛。

实用新型内容

针对上述存在的问题，本实用新型提供了一种带激光切割功能的芯片抽检机的控制系统，在检查的过程中，不用手去触碰芯片条带，避免对芯片条带的二次损坏；对于有缺陷的芯片不用手工处理，而是采用激光进行切割或打标，进一步避免人工处理过程中，手对芯片的接触，对芯片造成二次伤害。为了避免人眼长时间观看显微镜疲惫，本实用新型在显微镜的目镜处安装了CCD相机，CCD相机和监视画面显示器相连，这样在芯片条带检验过程中检验人员只用观看监视画面显示器，相比直接用显微镜的目镜观察，眼睛不易疲劳，降低了检验人员的工作强度。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种带激光切割功能的芯片抽检机的控制系统，其特征在于，包括控制器和与控制器连接的输入单元、料盒机构控制单元、推料机构控制单元、取料机构控制单元、运输机构控制单元、显微镜机构控制单元、激光切割机构控制单元，输入单元用于输入信息；料盒机构控制单元用于控制料盒机构的上下、X方向、Y方向的调节；推料机构控制单元用于控制推料机构完成推料；取料机构控制单元用于控制取料机构完成取料；运输机构控制单元用于控制运输机构将芯片条带运送到显微镜机构下观察或运送到激光切割机构下切割或打标；显微镜机构控制单元用于控制显微镜机构观察角度的调节；激光切割机构控制单元用于控制光切割机构完成切割或打标。

输入单元可以是键盘或触摸屏等，可以输入需要抽检的层数等一些需要用户输入的信息。本控制系统可有控制带激光切割功能的芯片抽检机完成芯片条带的选择、夹取、运输、观察、切割或打标，全过程都不需要用手接触芯片条带，避免了对芯片的人为二次损坏。

更进一步，料盒机构控制单元包括X方向调节机构一控制单元、Y方向调节机构一控制单元、上下调节机构控制单元，X方向调节机构一控制单元用于控制X方向调节机构一在X方向的移动；Y方向调节机构一控制单元用于控制Y方向调节机构一在Y方向的移动；上下调节机构控制单元用于控制上下调节机构的上下移动。

料盒本体为多层，在选定检验某层的芯片条带后，料盒机构的位置能够灵活调节，以便推料机构能准确推到选定层数的芯片条带。

更进一步，X方向调节机构一控制单元包括气缸一；Y方向调节机构一控制单元包括无杆气缸；上下调节机构控制单元包括料盒升降电机；气缸一、无杆气缸、料盒升降电机和控制器连接。

更进一步，推料机构控制单元包括推针气缸和异常检测装置，推针气缸和推料异常检测装置和控制器连接。

推料异常检测装置50能检测缓冲器52受到的压力，当推针未对准芯片条带的时候，推针受到的阻力大，推料异常检测装置50检测到的阻力值大，从而进行报警。