[实用新型]一种用于电气试验仪器的集成校验装置有效
申请号: | 201820897580.2 | 申请日: | 2018-06-11 |
公开(公告)号: | CN208314174U | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 杨方;潘国熙;龙武 | 申请(专利权)人: | 贵州电网有限责任公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 王海权 |
地址: | 550000 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校验 测量仪 电容测试仪 电阻测试仪 电阻 绕组变形测试仪 毫欧级电阻 电气试验 校验装置 微欧级 绝缘层 本实用新型 标准电容 电阻两端 装置携带 高压端 电容 套管 串联 | ||
本实用新型公开了一种用于电气试验仪器的集成校验装置,包括箱体,箱体内集成有电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块,电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块的两端分别引出有端子,介损测量仪校验模块外包裹有绝缘层,电阻测试仪校验模块包括微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻,端子分别从微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻两端引出,介损测量仪校验模块由电阻和标准电容相串联而成,电容测试仪校验模块包括电容,介损测量仪校验模块高压端设置有套管;该装置携带方便,能对电阻测试仪、绕组变形测试仪、介损测量仪和电容测试仪进行校验。
技术领域
本实用新型涉及高压电气试验领域,特别涉及一种用于电气试验仪器的集成校验装置。
背景技术
测试仪器现场使用,常遇到如下问题:
1、测试仪器损坏,无备用仪器,只能返回仓库领取,增加时间成本以及其他成本;2、测试仪器测试数据异常,无法进行核实,无法保障测试数据精度;3、除部分回路电阻测试仪、绕组变形测试仪配有专用校验模块、其他仪器如介损测量仪、电容测试仪器、直流电阻测试仪无相关校验装置。4、校验模块分散,携带困难,无集成多用途的校验装置。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的是提供一种用于电气试验仪器的集成校验装置,集成有多种电气试验仪器的校验模块,便于携带,校验精度可靠。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的:
一种用于电气试验仪器的集成校验装置,包括箱体,所述箱体内集成有电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块,所述电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块的两端分别引出有端子,所述介损测量仪校验模块外包裹有绝缘层,所述电阻测试仪校验模块包括微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻,端子分别从微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻两端引出,所述介损测量仪校验模块由电阻和标准电容相串联而成,所述电容测试仪校验模块包括电容,所述介损测量仪校验模块高压端设置有套管。
进一步,所述电阻测试仪校验模块一体成型,其端子由螺栓压接在箱体上。
进一步,所述电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块、电容测试仪校验模块左右并列设置在箱体内。
进一步,所述绕组变形测试仪校验模块包括端子L1、L2和L3,L1为高压端,L2为低压端,L3为可选择的低压端,端子L1和L2之间依次串联有电阻R1、R2、R3、R4,一电容C1连接在L1和L3之间,一电容C2的一端连接在R1和R2之间,另一端连接L3,一电容C3的一端连接在R2和R3之间,另一端连接L3,一电容C4的一端连接在R3和R4之间,另一端连接L3,一电容C5连接在L2和L3之间。
本实用新型的有益效果是:
本实用新型的一种用于电气试验仪器的集成校验装置,通过在箱体内设置电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块,只需携带该装置就能对电阻测试仪、绕组变形测试仪、介损测量仪和电容测试仪进行校验,携带方便,可节约成本,能保证测试精度。
本实用新型的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细描述,其中:
图1为本实用新型结构示意图;
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