[实用新型]一种玻璃析晶温度的测试装置

说明书

本实用新型属于玻璃研发制造技术领域，提出一种玻璃析晶温度的测试装置。提出的一种玻璃析晶温度的测试装置具有一密闭空间；密闭空间具有炉衬和包覆在炉衬外侧的保温层；炉衬的中心放置有用以放置被测样品的放置台，且放置台的一端伸出所述的密闭空间；所述放置台与所述炉衬之间设置有沿放置台圆周均布的多个加热元件，多个所述的加热元件位于放置台的另一端；设置在放置台另一端的多个所述的加热元件对密闭空间进行加热形成由放置台的另一端向放置台的一端温度变化的密闭空间；测试装置还具有测温原件Ⅱ和测温原件Ⅰ，所述的测温原件Ⅱ为两个，两个测温原件Ⅱ在测温原件Ⅰ到密闭空间末端之间移动。本实用新型具有结构简单，操作方便的特点。

技术领域

本实用新型属于玻璃研发制造技术领域，具体涉及一种玻璃析晶温度的测试装置。

背景技术

在玻璃新产品的开发过程中，我们希望知道它在一定温度范围内的析晶速度。目前国内还没有专门用于这种检测的装置。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提出一种玻璃析晶温度的测试装置。

本实用新型为完成上述目的采用如下技术方案：

一种玻璃析晶温度的测试装置，所述的测试装置具有一密闭空间；所述的密闭空间具有炉衬和包覆在炉衬外侧的保温层；所述炉衬的中心放置有用以放置被测样品的放置台，且放置台的一端伸出所述的密闭空间；所述放置台与所述炉衬之间设置有沿放置台圆周均布的多个加热元件，多个所述的加热元件位于放置台的另一端；设置在放置台另一端的多个所述的加热元件对密闭空间进行加热形成由放置台的另一端向放置台的一端温度变化的密闭空间；所述的测试装置还具有用以测试温度的测温原件Ⅱ和用以进行温度控制的测温原件Ⅰ，所述的测温原件Ⅱ为两个，两个所述的测温原件Ⅱ可以在测温原件Ⅰ到密闭空间末端之间移动；所述的测温原件Ⅰ、测温原件Ⅱ、加热元件均与控制柜电连接。

本实用新型提出的一种玻璃析晶温度的测试装置，采用上述技术方案，对玻璃析晶温度进行检测，一次完成测试，具有结构简单，操作方便的特点。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为图1的侧示图。

图中：1、保温层，2、炉衬，3、测温原件Ⅰ， 4、测温原件Ⅱ，5、加热元件， 6、放置台，7、控制柜。

具体实施方式

结合附图和具体实施例对本实用新型加以说明；

如图1、图2所示，一种玻璃析晶温度的测试装置，所述的测试装置具有一密闭空间；所述的密闭空间具有炉衬2和包覆在炉衬外侧的保温层1；所述炉衬2的中心放置有用以放置被测样品的放置台6，且放置台6的一端伸出所述的密闭空间；所述放置台6与所述炉衬2之间设置有沿放置台圆周均布的多个加热元件5，多个所述的加热元件5位于放置台的另一端；设置在放置台6另一端的多个所述的加热元件对密闭空间进行加热形成由放置台的另一端向放置台的一端温度变化的密闭空间；所述的测试装置还具有用以测试温度的测温原件Ⅱ4和用以进行温度控制的测温原件Ⅰ3，所述的测温原件Ⅱ4为两个，两个所述的测温环Ⅱ可以在测温原件Ⅰ到密闭空间末端之间移动；所述的测温原件Ⅰ、测温原件Ⅱ、加热元件均与控制柜电连接。

具体检测过程：沿放置台6放置一排样品，密封好样品放置台，设定好升温曲线及保温时间，待保温时间结束且炉温降到150℃以下时，打开样品放置台，观察样品析晶情况，这时放置台上有一段样品已经析晶，把两个测温原件Ⅱ4分别安装到放置台上有样品析晶部位的两端。再次密封好放置台，重复上次的升温曲线，在温度上升到最高点时，观察两个测温环Ⅱ4的测试温度，假如其中一个测温环Ⅱ4为1100℃，一个测温环Ⅱ为700℃，那么该样品的析晶温度为1100-700℃；完成一次测试。