[实用新型]同轴测温的激光熔化装置

说明书

实用新型提供一种同轴测温的激光熔化装置，包括激光发生器、激光照射器、温度计及激光调节装置。激光发生器用于发出第一激光。激光照射器用于向被熔位置发射第一激光并且接收第二激光。温度计用于分析处理第二激光中的温度信息和反射信息。激光调节装置包括二向色镜和光缆，光缆有三路并且交叉设置，三路光缆分别为第一路光缆、第二路光缆及第三路光缆，第一路光缆和第二路光缆为同一直线设置，二向色镜设于三路光缆的交点处并和第二路光缆呈45度角设置，第一路光缆和激光发生器连接，第二路光缆和激光照射器连接，第三路光缆和温度计连接。其中，第一激光的波长和第二激光的波长不同。本同轴测温的激光熔化装置始终保持测量光斑尺寸相同。

技术领域

本实用新型涉及激光熔化及测温技术领域，更具体地涉及一种同轴测温的激光熔化装置。

背景技术

现有的温度测量技术主要有两种：接触式和非接触式。使用接触式热传感器进行测量时，被测量材料的一些自身物理特性，例如：粘附、腐蚀、磨损等等都会对传感器造成损害。因此，非接触式传感器应用越来越广泛。使用非接触式热传感器进行温度测量时，通过向被测材料发射一定波长的激光，激光作用于被测材料上后，部分光子被该材料吸收，部分光子通过透镜进入检测器，通过检查物理光子量并通过转换计算来得到温度。

但是，材料表面上的激光光斑尺寸会大大影响进入检测器的光子数量。当材料表面上的激光的光斑尺寸较大时，则光子从材料表面的释放的光子就会很多，反之，光子从材料表面的释放的光子就会变少。因此，在测量温度的过程中必须严格控制光斑的大小，如果光斑大小不同，那么温度测量也会有变化。

尤其是在平板间的密封材料熔化的时候，很多电子元器件对热敏感，较高的温度会影响其灵敏性，因此激光束在密封材料处的温度控制十分重要，需要对温度实时监测。但是，使用现有的激光熔化装置和温度检测装置，无法保证激光光斑的尺寸的一致性，造成温度测量的误差。

实用新型内容

本实用新型为了克服现有技术的至少一个不足，提供一种保持测量激光光斑尺寸相同的同轴测温的激光熔化装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种同轴测温的激光熔化装置，包括激光发生器、激光照射器、温度计及激光调节装置。激光发生器用于发出第一激光。激光照射器用于向被熔位置发射第一激光并且接收第二激光。温度计用于分析处理第二激光中的温度信息和反射信息。激光调节装置包括二向色镜和光缆，光缆有三路并且交叉设置，三路光缆分别为第一路光缆、第二路光缆及第三路光缆，第一路光缆和第二路光缆为同一直线设置，二向色镜设于三路光缆的交点处并和第二路光缆呈45度角设置，第一路光缆和激光发生器连接，第二路光缆和激光照射器连接，第三路光缆和温度计连接，第一激光沿第一路光缆穿透二向色镜后继续沿第二路光缆至激光照射器，第二激光沿着第二路光缆被二向色镜反射后传至第三路光缆。其中，第一激光的波长和第二激光的波长不同。

可选的，二向色镜包括增透膜、二向色膜及中间层，中间层的两端分别镀有增透膜和二向色膜，增透膜设于靠近激光发生器的一侧。

可选的，激光调节装置还包括第一透镜组，第一透镜组包括第一凸透镜和第一平凹透镜，第一透镜组设于第一路光缆靠近激光发生器的一端，第一凸透镜设于激光发生器和第一平凹透镜之间，第一平凹透镜的凹面靠近第一凸透镜设置。

可选的，激光调节装置还包括第二凸透镜，第二凸透镜设于第二路光缆的靠近激光照射器的一端。

可选的，激光调节装置还包括第二透镜组，第二透镜组包括第二平凹透镜和凹透镜，第二透镜组设于第三路光缆的靠近温度计的一端，凹透镜设于第二平凹透镜和温度计之间，第二平凹透镜的凹面靠近凹透镜设置。

可选的，激光调节装置和温度计之间用三叉光缆连接，三叉光缆包括主光缆、第一分光缆及第二分光缆，主光缆的一端和激光调节装置连接，第一分光缆和第二分光缆分别和温度计连接，第一分光缆和第二分光缆均包括光纤，第一分光缆的光纤有多条并分布在第一分光缆的四周，第二分光缆的光纤分布在第二分光缆的中心。