[实用新型]一种利于均衡金刚石薄膜内应力的膜结构有效

专利信息
申请号: 201820932767.1 申请日: 2018-06-15
公开(公告)号: CN208501093U 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 左浩;李升;刘宏明 申请(专利权)人: 西安碳星半导体科技有限公司
主分类号: C23C16/27 分类号: C23C16/27;C23C28/00
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 刘晓晖
地址: 710000 陕西省西安市国家民用航天产*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 硬质合金层 金刚石层 沉积 过渡层 金刚石薄膜 均衡 金属基座 膜结构 光洁度 本实用新型 附着力强 耐腐蚀 同侧
【权利要求书】:

1.一种利于均衡金刚石薄膜内应力的膜结构,其结构包括金属基座(1)、第一金刚石层(2)、第一硬质合金层(3)、第二硬质合金层(4)、过渡层(5)和第二金刚石层(6),其特征在于:所述第一金刚石层(2)沉积于金属基座(1)上,所述第一硬质合金层(3)沉积于第一金刚石层(2)上,所述第二硬质合金层(4)沉积于第一硬质合金层(3)上,所述过渡层(5)沉积于第二硬质合金层(4)上,所述第二金刚石层(6)沉积于过渡层(5)上。

2.根据权利要求1所述的一种利于均衡金刚石薄膜内应力的膜结构,其特征在于:所述第一硬质合金层(3)为钨钴合金材质。

3.根据权利要求1所述的一种利于均衡金刚石薄膜内应力的膜结构,其特征在于:所述第二硬质合金层(4)为钨钛钽合金材质。

4.根据权利要求1所述的一种利于均衡金刚石薄膜内应力的膜结构,其特征在于:所述过渡层(5)为氮化硅材质。

5.根据权利要求1所述的一种利于均衡金刚石薄膜内应力的膜结构,其特征在于:所述第一金刚石层(2)的厚度为0.6-1.5mm,所述第二金刚石层(6)的厚度为0.7-1.2mm。

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