[实用新型]一种APD组件动态测试装置

说明书

本实用新型公开了一种APD组件动态测试装置，其可以尽量测试多种APD组件的参数，满足APD组件的生产测试需求。该APD组件动态测试装置包括：可调光源模块，用于为雪崩光电二极管APD提供测试光信号；可调偏压模块，与所述APD的输入端连接，用于向所述APD输出电压信号；输出调节模块，与所述APD的输出端连接，用于调节所述APD的输出信号的幅度值及调节所述APD的增益；测试模块，与所述APD连接，用于在所述APD输入的所述测试光信号的参数的情况下，测试输出所述APD的第一工作电压，以及所述APD在所述第一工作电压的最小可探测功率。

技术领域

本实用新型涉及电路测试技术领域，具体涉及一种APD组件动态测试装置。

背景技术

雪崩光电二极管(Avalanche Photo Diode，APD)组件因为能够实现脉冲激光特性测量而被广泛应用于高速光纤通信、弱光探测、激光测距等高速光电系统。

APD组件作为高速光电系统的关键器件，APD组件的指标参数，例如工作电压、探测功率等的准确度影响着高速光电系统的工作。而不同的APD进入雪崩过程所需的电压范围较宽，且APD的指标参数随着环境，例如温度的变化而变化，即使APD工作在恒定电压下，随着温度的变化，APD的指标参数，例如增益也有所变化。目前，针对APD组件的测试主要依赖国外设备，测试参数只能依赖于设备固定设置的，存在测试参数不完善的问题，难以满足APD组件生产测试需求。

实用新型内容

本实用新型提供了一种APD组件动态测试装置，其可以尽量测试多种APD组件的参数，满足APD组件的生产测试需求。

为解决以上技术问题，本实用新型提供一种APD组件动态测试装置，该测试装置包括：

可调光源模块，用于为雪崩光电二极管APD提供测试光信号；

可调偏压模块，与所述APD的输入端连接，用于向所述APD输出电压信号；

输出调节模块，与所述APD的输出端连接，用于调节所述APD的输出信号的幅度值及调节所述APD的增益；

测试模块，与所述APD连接，用于在所述APD输入的所述测试光信号的参数的情况下，测试输出所述APD的第一工作电压，以及所述APD在所述第一工作电压的最小可探测功率。

可选的，所述可调光源模块包括：

背景光光源，用于为所述APD提供背景光；

激光光源，用于为所述APD提供所述测试光信号，其中，所述激光光源还用于调节所述测试光信号指示的激光的波长、频率以及脉宽。

可选的，所述可调光源模块还包括：

光照度计，用于与所述背景光光源连接，用于标定所述背景光光源提供的背景光的光照范围。

可选的，所述可调光源模块还包括：

光衰减器，与所述激光光源连接，用于调节所述激光光源输出的所述测试光信号的光功率；

照射器，用于对所述光衰减器输出的光信号进行匀化并将匀化后的光信号照射至所述APD的光敏区；

光功率计，与所述APD连接，用于测试照射至所述APD的光敏区的光功率。

可选的，所述照射器将所述匀化后的光信号照射至所述APD的光敏区形成的光斑面积大于或等于15m²。

可选的，所述照射器将所述匀化后的光信号照射至所述APD的光敏区形成的光斑的均匀性大于或等于90％。

可选的，所述可调偏压模块包括：

高压电源，其中，所述高压电源的输出电压位于0-600V范围内，输出电路小于或等于10mA；