[实用新型]一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统有效
申请号: | 201820955581.8 | 申请日: | 2018-06-20 |
公开(公告)号: | CN208224400U | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 李玉健 | 申请(专利权)人: | 河北晶硕电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R21/00;G01R23/02;G01R23/16 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 050000 河北省石家庄*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试板 批量测试系统 晶体振荡器 高低温 功率计 高低温试验箱 频谱分析仪 自动化 频率计 计算机 微波射频电路 本实用新型 高低温试验 开关控制线 温度控制线 信号输出线 读取频率 射频开关 仪器设备 频谱仪 测量 输出 | ||
本实用新型公开了一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统,属于微波射频电路领域领域。一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统,包括高低温试验箱、测试板、功率计、频率计、频谱分析仪和计算机,所述测试板放置于高低温试验箱内,计算机通过温度控制线控置高低温试验箱的工作温度,通过开关控制线控置测试板上的射频开关,测试板输出的总信号输出线接至频率计、功率计、频谱分析仪,计算机通过GPIB接口读取频率计、功率计及频谱仪等各仪器设备所测量的结果。
技术领域
本实用新型涉及微波射频电路领域,尤其涉及一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统。
背景技术
晶体振荡器通常需要进行高低温性能指标测试。在高低温测试过程中,需要在不同的温度点测试晶体振荡器的频率、输出功率、谐波抑制等技术参数。单个人工测试时生产效率低下,并且测试结果的系统性分析差。采用批量化的自动化测试方法可以在高低温箱中一次放置多个晶体振荡器同时进行高低温实验,测试时通过计算机控制提取多个晶体振荡器的频率、输出功率、谐波抑制等参数,并可以将提取的结果根据需要做出分析。自动化测试系统可以极大的节省人力和时间,提高测试效率。
实用新型内容
本实用新型针对晶体振荡器的自动化测试,提供了一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统。
为解决上述技术问题,本实用新型所采取的技术方案是:
一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统,包括高低温试验箱、测试板、功率计、频率计、频谱分析仪和计算机,所述测试板放置于高低温试验箱内,计算机通过温度控制线控置高低温试验箱的工作温度,通过开关控制线控置测试板上的射频开关,测试板输出的总信号输出线接至频率计、功率计、频谱分析仪,计算机通过GPIB接口读取频率计、功率计及频谱仪等各仪器设备所测量的结果。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于:
本实用新型一种晶体振荡器的高低温自动化批量测试系统是实现了晶体振荡器的自动化高低温测试,提高生产效率,测试结果直接存储分析,实现系统化分析。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
图1是本实用新型单块测试板结构图
图2是本实用新型多块测试板扩展后结构图
图3是本实用新型晶体振荡器高低温自动化测试系统框图
图4是本实用新型测试流程图
具体实施方式
下面结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型,但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似推广,因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
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