[实用新型]一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构有效
申请号: | 201820983045.9 | 申请日: | 2018-06-25 |
公开(公告)号: | CN209000947U | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 武良文 | 申请(专利权)人: | 江西兆驰半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 330000 江西省南昌市南昌高新技*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 空穴注入层 发光二极管外延结构 空穴 电子阻挡层 扩散层 源层 氮化镓基发光二极管 本实用新型 发光效率 外延结构 下降问题 非掺杂 缓冲层 衬底 掺杂 扩散 概率 | ||
1.一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,包括衬底(10)、缓冲层(20)、n型氮化镓层(30)、有源层(40)、电子阻挡层(50)、p型低温空穴注入层(60)、空穴扩散层(70)、p型氮化镓层(80);其特征在于:
衬底(10),由蓝宝石材料所制成;
缓冲层(20),其位于所述衬底(10)上,由氮化镓基材料所构成;
n型氮化镓层(30),其位于所述缓冲层(20)上,由氮化镓基材料所构成;
有源层(40),其位于所述n型氮化镓层(30)上,由氮化镓基材料所构成;
电子阻挡层(50),其位于所述有源层(40)上,由非掺杂含铝氮化镓基材料所构成;
p型低温空穴注入层(60),其位于所述电子阻挡层(50)上,由氮化镓基材料所构成;
空穴扩散层(70),其位于所述p型低温空穴注入层(60)上,由非掺杂含铝氮化镓基材料所构成;
p型氮化镓层(80),其位于所述空穴扩散层(70)上,由氮化镓基材料所构成。
2.根据权利要求1所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:采用C面蓝宝石图样化基板(PSS)作为所述衬底(10),所述缓冲层(20)的材料组分为AlxGa1-xN,其中0≤x≤1,所述n型氮化镓层(30)的n型浓度>5E18cm-3,所述有源层(40)由InxGa1-xN构成的阱层和GaN构成的垒层交互堆叠形成多量子阱所构成,其中0<x<1,所述电子阻挡层(50)的材料组份为AlxGa1-xN,其中0<x<0.5,所述电子阻挡层(50)厚度为5-100nm,其成长温度低于所述有源层(40)中垒层的成长温度。
3.根据权利要求2所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:所述缓冲层(20)的材料组分为GaN。
4.根据权利要求2所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:所述电子阻挡层(50)的材料组份为Al0.2Ga0.8N,厚度为15nm,成长温度为890摄氏度。
5.根据权利要求1所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:所述p型低温空穴注入层(60)的材料组份为InxAlyGa1-y-zN,其中0≤x<0.1,0≤y<0.3,且镁掺杂浓度为1E19-1E21cm-3,所述p型低温空穴注入层(60)厚度为5-100nm,其成长温度低于有源层(40)中阱层的成长温度。
6.根据权利要求5所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:所述p型低温空穴注入层(60)的材料组份为In0.05Al0.15Ga0.8N,厚度为30nm,镁掺杂浓度为1E20cm-3,成长温度为770摄氏度。
7.根据权利要求1所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:所述空穴扩散层(70)的材料组份为InxAlyGa1-y-zN,其中0≤x<0.1,0<y<0.5,所述空穴扩散层(70)厚度为5-100nm。
8.根据权利要求7所述的一种具有低温成长空穴注入层的发光二极管外延结构,其特征在于:所述空穴扩散层(70)的材料组份为Al0.1Ga0.9N,厚度为30nm,成长温度为950摄氏度。
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