[实用新型]玻璃介电常数测试用电极装置有效

专利信息
申请号: 201821008715.1 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN208283328U 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 蒋子安 申请(专利权)人: 成都光明光电股份有限公司
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22
代理公司: 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 代理人: 敬川
地址: 610100 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 电极部件 玻璃介电 测试样品 测试 弹性元件 电极装置 电极 上壳 体内 伸缩调节部件 本实用新型 下电极部件 玻璃测试 夹紧固定 接触不良 接触电阻 可活动 内顶面 上壳体
【说明书】:

实用新型属于玻璃测试技术领域,具体公开了一种利于提高玻璃介电常数测试精度的电极装置。该玻璃介电常数测试用电极装置通过在上壳体内设置包括有弹性元件的伸缩调节部件,同时使上电极部件可活动地设置在上壳体内,并将弹性元件设置于上壳体的内顶面和上电极部件之间,进而当下电极部件与上电极部件之间放置有测试样品进行测试时,可以利用弹性元件的弹力将测试样品夹紧固定,使得上电极部件的电极部分及下电极部件的电极部分均与测试样品接触良好,可以消除电极和测试样品之间因接触不良而产生的接触电阻,利于提高玻璃介电常数的测试精度。

技术领域

本实用新型属于玻璃测试技术领域,具体涉及一种电极装置。

背景技术

介电常数是光学玻璃的一项重要的物理性质,全面而准确地掌握这种特性,对分析、改进光学玻璃的性能十分重要。一般都希望光学玻璃具有一致性,通过测定介电常数等参数,可进一步了解影响介质损耗的各种因素,用于对光学玻璃新材料性能的应用研究、研发评估,为提高光学玻璃的性能提供依据;可以分析光学玻璃组成之间的变化关系,研究光学玻璃基质中不同组份配比对相应性质的影响。

目前,一般采用电桥法或频率法测定光学玻璃的介电常数。测试过程中,通常需要利用电极装置提供电力,利用LCR测试仪或Q表等仪器等对光学玻璃的介电常数进行检测。现有的电极装置,其电极与测试样品之间往往因接触不良而产生接触电阻,导致测试精度降低;另外,现有的测试装置在同一测试条件下多次测量的系统误差一致性不好,不利于对测试系统进行修正,得出较为准确的测试结果。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种利于提高玻璃介电常数测试精度的电极装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:玻璃介电常数测试用电极装置,包括下壳体、设置在下壳体内的下电极部件、设置在下壳体上侧的上壳体、以及上电极部件;还包括设置在上壳体内的伸缩调节部件,所述伸缩调节部件包括弹性元件;所述上电极部件设置在上壳体内,并能够沿上壳体的高度方向运动;所述弹性元件设置于上壳体的内顶面和上电极部件之间,当下电极部件与上电极部件之间放置有测试样品时,弹性元件处于压缩状态。

进一步的是,所述下电极部件包括下电极固定块、下电极绝缘体和下平板电极,所述下电极固定块设置在下壳体内,下电极固定块的上侧设有下电极固定槽,所述下电极绝缘体设置在下电极固定槽中,下电极绝缘体的上侧设有下电极安装槽,所述下平板电极设置在下电极安装槽中。

进一步的是,所述下电极固定块的侧部设置有楔形槽,与楔形槽相对应的下壳体部位上设置有微调螺杆,所述微调螺杆的旋拧端位于下壳体外侧,微调螺杆的调节端伸入至楔形槽内。

进一步的是,所述上电极部件包括上电极固定块、上电极绝缘体和上平板电极,所述上电极固定块设置在上壳体内,上电极固定块的下侧设有上电极固定槽,所述上电极绝缘体设置在上电极固定槽中,上电极绝缘体的下侧设有上电极安装槽,所述上平板电极设置在上电极安装槽中并与下平板电极相对应。

进一步的是,所述伸缩调节部件还包括伸缩筒和提杆,所述伸缩筒设置在上壳体内其两端分别与上壳体的内顶面和上电极固定块的上表面密封连接,所述弹性元件设置在伸缩筒中其两个接触端分别与上壳体的内顶面和上电极固定块的上表面相对应,所述提杆的一端穿过上壳体的顶部伸入至伸缩筒中并与上电极固定块连接,提杆的另一端处于上壳体外。

进一步的是,所述伸缩筒由波纹管制成。

进一步的是,所述弹性元件为螺旋弹簧,所述上壳体的内顶面和上电极固定块的上表面上分别设有上连接柱和下连接柱,所述螺旋弹簧的两端分别套装上连接柱和下连接柱上。

进一步的是,所述提杆从螺旋弹簧中穿过。

进一步的是,该玻璃介电常数测试用电极装置还包括电器箱,所述电器箱包括箱体、设置在箱体上侧的操作台板、以及设置在箱体底部的地脚螺钉。

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