[实用新型]一种扩膜、测试、分选一体机有效
申请号: | 201821016497.6 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN208368534U | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 张虎;林桂绮;邱智中;蔡吉明 | 申请(专利权)人: | 安徽三安光电有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 241000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 真空平台 真空控制机构 承载机构 透气性膜 膜单元 一体机 分选 芯粒 载台 半导体设备 本实用新型 测试 测试单元 分选单元 芯片承载 承载芯 固定环 可升降 | ||
本实用新型属于半导体设备领域,其提供的一种扩膜、测试、分选一体机,至少包括一扩膜单元、一测试单元、一分选单元,其特征在于:所述扩膜单元包括一环形载台,一可升降的真空平台,一真空控制机构,以及一芯粒承载机构,所述真空平台位于环状载台的中心,所述真空控制机构连接于所述真空平台,所述芯片承载机构位于所述环形载台上,所述芯粒承载机构包括一承载芯粒的弹性透气性膜,以及固定该弹性透气性膜的固定环。
技术领域
本实用新型属于半导体设备领域,尤其涉及一种扩膜、测试、分选一体机。
背景技术
在LED制作过程中,芯片经过划裂制程后会进行扩膜、测试、分选。进行每部作业之前需要对芯粒进行倒膜,即更换新的蓝膜,以便能更好的承载芯片。
现有作业中多次倒膜过程存在如下缺陷:1、因扩膜单元及蓝膜特性,存在扩膜歪、扩膜破等异常。 2、因蓝膜有收缩的特性,放置时间过长会收缩,影响作业。3、蓝膜为一次性使用物料,为定期消耗品,不可回收利用,成本较高。4、分选易产生顶针残胶、背缺等异常。
发明内容
为解决上述技术问题,一种一扩膜、一测试、一分选一体机,至少包括一扩膜单元、测试单元、分选单元,其特征在于:所述扩膜单元包括一环形载台,一可升降的真空平台,一真空控制机构,以及一芯粒承载机构,所述真空平台位于环状载台的中心,所述真空控制机构连接于所述真空平台,所述芯片承载机构位于所述环形载台上,所述芯粒承载机构包括一承载芯粒的弹性透气性膜,以及固定该弹性透气性膜的固定环。
优选的,所述测试单元、分选单元分别位于所述扩膜单元的两侧。
优选的,所述扩膜单元、测试单元、分选单元顺次排布。
优选的,所述环形载台上还设置有固定芯粒承载机构的固定构件。
优选的,所述真空平台还包括一驱动机构,所述驱动机构驱动真空平台的升降。
优选的,所述真空控制机构还包括一真空压力表和一报警装置。
优选的,所述固定构件包括电磁铁和/或者螺栓。
优选的,所述扩膜单元构设置于一滑动轨道上。
优选的,所述滑动轨道为“十字形”轨道或者“直线形”轨道。
优选的,所述透气性膜为TPU膜。
本实用新型提供的一种扩膜、测试、分选一体机,可取消使用蓝膜,采用可重复使用的弹性透气性膜承载芯粒,降低成本。其通过一种TPU弹性透气性膜结合铁环承载片源,利用真空平台上升顶起TPU弹性膜对片源进行微扩,从而进行芯粒的测试及分选,减少倒膜作业。
附图说明
图1 为本实用新型之扩膜、测试、分选一体机主视图
图2 为本实用新型之扩膜单元剖视图。
图3 为本实用新型之环形载台、真空平台、透气性膜和固定环之立体图。
附图标注:100:扩膜单元;110:环形载台;120:真空平台;130:真空控制机构;131:真空压力表;132:报警装置;140:驱动机构;150:芯粒承载机构;151:透气性膜;152:固定环;160:固定构件;161:螺栓;162:电磁铁;170:滑动轨道;200:测试单元;300:分选单元。
具体实施方式
在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本实用新型。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
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