[实用新型]一种集成电路动态闩锁效应检测系统

说明书

本实用新型提出了一种集成电路动态闩锁效应检测系统，包括：信号源、试验电路板、闩锁效应试验台和供电电源。本实用新型实现了试验过程中的集成电路动态闩锁效应在线检测，通过时序信号和时钟信号的加入，使得待测器件工作在实际的动态工作状态下，故检测出的抗闩锁能力可以表征集成电路在工作状态下的实际抗闩锁能力。

技术领域

本实用新型涉及集成电路闩锁效应试验技术领域，尤其涉及一种集成电路动态闩锁效应检测系统。

背景技术

闩锁效应是CMOS工艺所特有的寄生效应,效应严重时会导致电路失效甚至芯片烧毁。在寄生结构中寄生的PNP和NPN受外界激励，当其中一个三极管正偏时，即进入正反馈而产生的一低阻通路，在电源和地之间产生大电流烧毁。静电释放、电压电路瞬变及空间电磁干扰等是闩锁的主要诱因。

在军用集成电路检验中，用户极为关注电路抗闩锁能力，很多产品的考核中都增加了闩锁试验项目。

目前的集成电路闩锁效应检测系统，无法实现动态闩锁效应检测。一般做法是在进行试验时，器件仅处于加电状态，对器件不施加外部时钟和时序信号，除去特殊预置引脚外，其余I/O管脚先后全接高电平、全接低电平进行过电压、过电流试验，这种引脚的偏置状态与集成电路实际使用条件下的I/O管脚逻辑状态存在极大的偏差。集成电路在实际使用时，引脚的输入逻辑状态是根据需要实时改变的，而在不同的逻辑状态时，寄生的SCR(Silicon Controlled Rectifier，晶闸管)结构是不一样的。CMOS是大规模(LSI)和超大规模(VLSI)集成电路中广泛应用的一种电路结构，CMOS电路的主要优点是它只有在逻辑状态转换时才会产生较大的瞬态电流，而在稳定状态时只有极小的电流，工作状态下电路发生闩锁的风险远高于稳定状态。因此按照目前方法进行的静态闩锁不是产品最劣的工作状态，检测出的抗闩锁能力难以表征集成电路在工作状态下的实际抗闩锁能力。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是，提供一种集成电路动态闩锁效应检测系统，解决现有技术中无法实现动态闩锁效应检测的缺陷。

本实用新型采用的技术方案是，所述集成电路动态闩锁效应检测系统，包括：信号源、试验电路板、闩锁效应试验台和供电电源，其中，

所述试验电路板上安装待测器件及其配套外围电路；

所述信号源与所述试验电路板相连，所述信号源用于为所述待测器件提供在动态工作时所需的时钟信号和时序信号；

所述供电电源与所述试验电路板相连，所述供电电源用于为所述待测器件提供在动态工作时所需的电源信号，并向用户呈现所述电源信号中的电流值以供用户判断所述待测器件是否发生闩锁效应；

所述闩锁效应试验台与所述试验电路板通过端口相连，所述闩锁效应试验台用于向所述待测器件的待测管脚提供测试信号以触发闩锁效应。

可选的，所述信号源包括多个，其中一个信号源用于为所述待测器件提供在动态工作时所需的时钟信号，其余的信号源用于为所述待测器件提供在动态工作时所需的时序信号。

可选的，所述闩锁效应试验台用于依次向所述待测器件的每一个待测管脚提供过压信号或过流信号以触发闩锁效应。

可选的，所述测试信号包括：过压信号，和/或，过流信号。

可选的，所述系统，还包括：电流检测装置和报警控制装置，其中，所述电流检测装置同时与所述供电电源以及所述报警装置相连；

所述电流检测装置用于检测所述供电电源的电源信号的电流值，并发送给所述报警控制装置；

所述报警控制装置用于在所述电流值超过设定的电流阈值时，进行报警以通知用户所述待测器件发生了闩锁效应。