[实用新型]一种测定金属箔膜电阻率的测试架及智能电阻率仪器

说明书

本实用新型涉及电阻率测量技术领域，特别地涉及一种测定金属箔膜电阻率的测试架及智能电阻率仪器。本实用新型公开了一种测定金属箔膜电阻率的测试架及智能电阻率仪器，其中，测试架包括测试架本体，所述测试架本体上设有一测试台，所述测试台的两端分别设有一电流输入输出触头，位于两电流输入输出触头之间的测试台上还设有相距一定距离的两个电压降检测刀口，两电流输入输出触头上分别压设有可打开的第一压块，所述两个电压降检测刀口上分别压设有可打开的第二压块，所述两电流输入输出触头和两个电压降检测刀口分别与检测装置电连接。本实用新型可以对金属箔膜的电阻率进行快速精准测定，结构简单，成本低。

技术领域

本实用新型属于电阻率测量技术领域，具体地涉及一种测定金属箔膜电阻率的测试架及智能电阻率仪器。

背景技术

金属箔膜、金属薄带的电阻率、电导率测量仪，广泛应用于新能源电池、电线电缆等行业铜箔、铝箔材料电阻率测量。目前用于该材料电阻率的测量方法有直流四探针测量法、双臂电桥法及涡流法。直流四探针法简单，但误差大、重现性差；涡流法测量由于金属箔膜厚度不够，无法直接测量，叠加测量误差大；双臂电桥法是较传统检测方法，但由于操作繁琐、测量时间长、效率低，测量的电阻率值还要人工计算获得，而且存在连接导线电阻和接触电阻带来的测量误差。

而采用电流-电压降四端子测量法进行测量，则可以很好地解决上述的问题，但现有的电流-电压降四端子测量法的电阻率仪器，如公开专利：CN 201562017U，只适用于导线的电阻率测量，而不适用于金属箔膜、金属薄带的电阻率测量。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种测定金属箔膜电阻率的测试架及智能电阻率仪器用以解决上述存在的问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：一种测定金属箔膜电阻率的测试架，适用于电流-电压降四端子测量法，包括测试架本体，所述测试架本体上设有一测试台，所述测试台的两端分别设有一电流输入输出触头，位于两电流输入输出触头之间的测试台上还设有相距一定距离的两个电压降检测刀口，两电流输入输出触头上分别压设有可打开的第一压块，所述两个电压降检测刀口上分别压设有可打开的第二压块，所述两电流输入输出触头和两个电压降检测刀口分别与检测装置电连接。

进一步的，所述电流输入输出触头为横截面为方形的长条状结构，突出于测试台的上表面。

进一步的，电压降检测刀口为长条状结构。

更进一步的，所述电压降检测刀口的底部设有安装底板，通过螺丝锁紧在测试台上。

更进一步的，所述测试台设有安装凹槽，所述安装底板通过螺丝锁紧在安装槽内，所述电压降检测刀口的顶部突出于测试台的上表面。

进一步的，两个第一压块分别通过一夹子机构实现可打开地压设在电流输入输出触头上。

更进一步的，所述第二压块分别通过一弹性板与第一压块连接。

进一步的，所述测试架本体还设有电缆线端口，所述两电流输入输出触头和两个电压降检测刀口分别通过电缆线端口与检测装置电连接。

本实用新型还公开了一种测定金属箔膜电阻率的智能电阻率仪器，包括检测装置和上述的测定金属箔膜电阻率的测试架。

进一步的，所述检测装置是通过单片机控制电路控制数控恒流源电路的输出电流，并通过电流换向电路连接至所述两电流输入输出触头为其提供检测电流，再通过与两个电压降检测刀口连接的微弱电压放大电路将被测金属箔膜的电压信号经过第一A/D转换电路传送至单片机控制电路，所述的电流换向电路连接并受控于单片机控制电路，所述数控恒流源电路与电流检测电路相连接，并通过第二A/D转换电路传送至单片机控制电路，所述的单片机控制电路还与电源电路、温度传感器、键盘和显示器相连接，实时显示温度数据和测量信息。

本实用新型的有益技术效果：