[实用新型]一种集成电路测试仪

权利要求书

1.一种集成电路测试仪，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)的上表面设有第一矩形槽(11)，所述第一矩形槽(11)的左右两侧槽壁上对称设置有滑槽(12)，每个所述滑槽(12)的槽口处均固定安装有两个相互对称的限位块(121)；

所述第一矩形槽(11)内设有滑动装置(2)，所述滑动装置(2)包括设置在所述第一矩形槽(11)内部的保护盒(20)，所述保护盒(20)的前侧面上开设有第二矩形槽(21)以及第三矩形槽(22)，所述保护盒(20)的左右两侧面上固定安装有滑块(23)，所述滑块(23)与所述滑槽(12)之间滑动连接，所述第二矩形槽(21)与第三矩形槽(22)内设有转动装置(3)；

所述转动装置(3)包括设置在所述第二矩形槽(21)内的插线接口(31)和两个相互对称的转轴(311)，且所述插线接口(31)和所述第二矩形槽(21)槽壁之间通过转轴(311)转动连接，其中一个所述转轴(311)活动贯穿所述第二矩形槽(21)的槽壁并伸至所述第三矩形槽(22)内，位于所述第三矩形槽(22)内的所述转轴(311)的轴体上固定安装有转动按钮(32)。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试仪，其特征在于：每个所述滑块(23)的末端均固定安装有两个相互对称的防脱块(231)，且两个所述防脱块(231)之间的距离大于两个所述限位块(121)之间的距离。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试仪，其特征在于：所述转动按钮(32)的上方设有卡位机构(33)。

4.根据权利要求3所述的集成电路测试仪，其特征在于：所述卡位机构(33)包括固定安装在所述第三矩形槽(22)顶壁上的固定块(331)，所述固定块(331)的下方设有卡位块(332)。

5.根据权利要求4所述的集成电路测试仪，其特征在于：所述卡位块(332)的顶面开设有方形槽(3321)，所述方形槽(3321)内设有两个相互对称的压簧(3322)。

6.根据权利要求5所述的集成电路测试仪，其特征在于：每个所述压簧(3322)的一端均紧密粘接在所述方形槽(3321)的槽壁上，另一端均紧密粘接在所述固定块(331)的下表面。

7.根据权利要求5所述的集成电路测试仪，其特征在于：所述卡位块(332)的底端设有凸块，且所述卡位块(332)底端凸块的截面呈V字形。