[实用新型]工件表面轮廓在位测量系统有效

专利信息
申请号: 201821109076.8 申请日: 2018-07-12
公开(公告)号: CN208547320U 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 李学崑;陈占营;张云;蒋昇;杜海涛;王立平 申请(专利权)人: 清华大学;华辰精密装备(昆山)股份有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 黄德海
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测量工件表面 测量工件 变化量 工件表面轮廓 位移传感器 测量系统 在位 个位移传感器 固定支撑模块 数据采集模块 数据处理模块 位移测量模块 本实用新型 测量精度高 安装方便 垂直工件 实时存储 系统测量 轴线方向 滑动 测量臂 夹持 开放性 测量
【说明书】:

实用新型提出了一种工件表面轮廓在位测量系统,包括:位移测量模块,包括两个位移传感器,用于测量被测量工件表面轮廓的变化量;固定支撑模块,包括两个测量臂,用于夹持位移传感器,以使位移传感器垂直工件表面沿所述被测量工件轴线方向滑动;数据采集模块,用于获取被测量工件表面轮廓的变化量;数据处理模块,用于根据被测量工件表面轮廓的变化量得到被测量工件的当前轮廓,并实时存储被测量工件的当前轮廓。该系统测量过程简单快捷,测量精度高且价格低廉,安装方便且开放性好。

技术领域

本实用新型涉及机械测量技术领域,特别涉及一种工件表面轮廓在位测量系统。

背景技术

对于有表面轮廓精度要求的轴类工件,机械加工后测量表面轮廓精度是必不可少的。当前对工件表面轮廓测量主要有两种方法,在位测量和离线测量。在位测量是指利用机床自带的测量系统,在工件不离开机床时进行工件表面轮廓测量。这种测量方式测量速度快,测量时不用拆装工件,但测量精度有限,原始数据不易提取,系统开放性差,不能与其他加工状态信号(加工过程振动、功率信号等)同步测量。而且机床自带的工件表面轮廓测量系统价格昂贵,因此普通机床不具备工件表面轮廓测量系统。离线测量将工件安装在专门的表面轮廓测量仪上进行表面轮廓测量。这种测量方式精度高,但测量时间长,而且仪器本身价格昂贵。对于大尺寸的工件,一般无法利用表面轮廓仪进行测量。因此开发一种价格低廉、安装方便、开放性好的工件表面轮廓在位测量系统,对于机械加工领域具有重要意义。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此,本实用新型的目的在于提出一种工件表面轮廓在位测量系统,具有测量过程简单快捷,测量精度高且价格低廉,安装方便且开放性好的优点。

为达到上述目的,本实用新型提出了一种工件表面轮廓在位测量系统,包括:位移测量模块,所述位移测量模块包括两个位移传感器,用于测量被测量工件表面轮廓的变化量;固定支撑模块,所述固定支撑模块包括两个测量臂,用于夹持两个所述位移传感器,以使两个所述位移传感器垂直工件表面沿所述被测量工件轴线方向滑动;数据采集模块,用于获取所述被测量工件表面轮廓的变化量;数据处理模块,用于根据所述被测量工件表面轮廓的变化量得到所述被测量工件的当前轮廓,并实时存储所述被测量工件的当前轮廓。

本实用新型实施例的工件表面轮廓在位测量系统,通过两个测量臂夹持两个位移传感器并垂直于工件表面沿所述被测量工件轴线方向滑动,且通过采集到的被测量工件表面轮廓的变化量得到被测量工件的当前轮廓,并实时存储,具有测量过程简单快捷,测量精度高且价格低廉,安装方便且开放性好的优点。

另外,根据本实用新型上述实施例的工件表面轮廓在位测量系统还可以具有以下附加的技术特征:

进一步地,在本实用新型中,所述两个位移传感器的测量部分根据所述被测量工件表面轮廓的变化而伸缩,以得到所述被测量工件表面轮廓的变化量。

进一步地,在本实用新型中,所述两个测量臂包括:底座,用于磁性吸附于机床,并且在任意方向伸展及固定。

进一步地,在本实用新型中,所述的工件表面轮廓在位测量系统,还包括:供电模块,用于供电。

进一步地,在本实用新型中,所述两个位移传感器安装时要与所述被测量工件表面垂直接触,随着所述被测量工件表面轮廓的变化,所述两个位移传感器的测量部分会伸缩,以保证测量部分能与所述被测量工件表面紧密接触。

进一步地,在本实用新型中,所述数据处理模块还用于计算所述被测量工件截面的圆度和所述被测量工件的圆柱度,并显示和保存所述截面的圆度和所述被测量工件的圆柱度。

进一步地,在本实用新型中,所述数据处理模块在计算所述被测量工件截面的圆度时,所述位移传感器的位置固定在所述被测量工件某一截面的位置,且工件旋转一周。

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