[实用新型]一种带有吸附功能半自动直针测试插座

说明书

本实用新型公开了一种带有吸附功能半自动直针测试插座，包括测试插座本体和气缸传动件，测试插座本体包括下座件和上盖件，两者通过转轴连接；下座件上设有测试基座；上盖件上设有与测试基座作用的压板，气缸传动件包括依次铰接的气缸、T型杆、传动杆和直角杆，直角杆与上盖件侧边连接固定，T型杆与传动基座铰接。本实用新型将芯片的吸附方式由传统的磁铁吸附改为吸盘吸附，解决人工安装磁铁出现的正反面安装错误的问题，并且解决磁铁回路干扰检测的问题，达到较好的检测效果，同时，本测试插座采用气缸传动结构执行，取能够有效的提高工作效率，且能有效控制并减少上盖与底座重合时产生的刚性冲击，有效的保护测试插座及其芯片。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别涉及一种带有吸附功能半自动直针测试插座。

背景技术

随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，从而保留合格的芯片。

而芯片的测试插座是一种在集成电路测试、电子系统调试、可编程芯片烧录、电路失效分析等领域广泛应用的电气连接设备，在芯片测试中直接与被测芯片相连起到测试信号传输的功能。

特别是在集成电路测试行业中，测试插座作为测试机系统与被测芯片之间的接口，是保证测试良率、提高测试效率的关键之一，其性能如接触电阻、测试良品率、机械性能等，都会直接影响到测试效果。

目前，国内外的测试插座普遍采用磁铁吸附的形式来保证芯片在检测过程中的准确性和稳定性，但是在安装和检测的过程中会出现诸多的问题：

由于芯片测试插座都是批量生产，产量较大，工人在安装过程中难免会混淆磁铁的正反面，导致芯片检测结果的不准确性；

对于高度集成化的芯片，在芯片安装过程中，磁铁的上表面有可能会划伤芯片，导致芯片的损坏；在检测过程中，磁铁的回路可能会干扰到检测过程，导致检测结果的不准确性。

显然采用磁铁吸附的形式在插座安装和芯片检测过程中存在诸多问题，不利于工业生产的要求。

而且，目前测试插座进行测试时的闭合都是通过人工闭合实现的，这种方式一定程度上会影响工作效率，而且，人工闭合，上盖件与底座的刚性冲击不可控。

实用新型内容

本实用新型为解决上述问题，提供一种具有磁铁吸附功能手动直针测试插座，将芯片的吸附方式由传统的磁铁吸附改为吸盘吸附，解决人工安装磁铁出现的正反面安装错误的问题，并且解决磁铁回路干扰检测的问题，达到较好的检测效果。

同时，本测试插座的闭合采用气缸传动结构执行，取代人工闭合，减少人工参与度，保证工作稳定性的同时，能够有效的提高工作效率，同时，采用气缸伸缩闭合，可以减少上盖与底座重合时产生的刚性冲击，有效的保护测试插座及其芯片。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种带有吸附功能半自动直针测试插座，包括测试插座本体和气缸传动件，测试插座本体包括下座件和上盖件，下座件和上盖件通过转轴连接，气缸传动件与上盖件连接固定；

下座件上设有测试基座，测试基座上设有芯片定位槽，芯片定位槽内设有多个吸附件安装通孔，吸附件安装通孔内设有吸盘，下座件在吸附件安装通孔下侧设有气路通孔；

上盖件上设有与测试基座作用的压板，压板上与芯片定位槽对应的位置设有浮板；

气缸传动件包括依次铰接的气缸、T型杆、传动杆和直角杆，直角杆与上盖件侧边连接固定，T型杆与传动基座铰接。

进一步地，下座件上设有锁紧扣，上盖件上设有弹簧扣。

进一步地，吸附件安装通孔个数优选为2。

进一步地，吸盘包括前端的吸盘口和后端的导气管。