[实用新型]一种MCD的测试装置有效
申请号: | 201821181678.4 | 申请日: | 2018-07-24 |
公开(公告)号: | CN208795459U | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 刘振辉;王业文;栗巍;杨波 | 申请(专利权)人: | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 任志龙 |
地址: | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连通孔 波长测试 分光镜座 光强测试 进光孔 中轴线 测试装置 端部连接 测试 底座 连通 技术方案要点 半透半反镜 本实用新型 中轴线垂直 测试组件 人力成本 中心轴线 交接处 平行 | ||
1.一种MCD的测试装置,其特征在于,包括开设有进光孔(11)的底座(1)和安装于所述底座(1)上的分光镜座A(2)和分光镜座B(3);分光镜座B(3)开设有与进光孔(11)连通的连通孔(31)和设置于连通孔(31)远离进光孔(11)一端的波长测试孔(32),波长测试孔(32)的中轴线与连通孔(31)中轴线垂直;波长测试孔(32)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件(5);分光镜座A(2)开设有与连通孔(31)连通且中轴线与连通孔(31)中轴线平行的光强测试孔(21);光强测试孔(21)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件(4);
连通孔(31)和光强测试孔(21)交接处安装有与连通孔(31)中心轴线成45°的半透半反镜(6)。
2.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述分光镜座A(2)和分光镜座B(3)均包括相互抵接的抵接面(22)和安装面(23),所述安装面(23)内凹用于安装半透半反镜(6)的安装面(23),所述安装面(23)与连通孔(31)中心轴线成45°,抵接面(22)和安装面(23)为锐角。
3.根据权利要求2所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述抵接面(22)和安装面(23)为45°。
4.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述半透半反镜(6)外围设有第二环型橡胶密封圈(61)。
5.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述波长测试组件(5)与所述分光镜座B(3)之间设有衰减组件(7);所述衰减组件(7)包括安装于所述波长测试组件(5)与所述分光镜座B(3)之间的遮光板(71),所述遮光板(71)表面上开设有透光槽(711),所述透光槽(711)底面开设有透光孔(712),所述透光孔(712)的直径小于所述透光槽(711)的直径;透光槽(711)内设有衰减片(72);所述衰减组件(7)还包括安装于所述分光镜座B(3)接近所述透光槽(711)的侧面上的光电开关(74)。
6.根据权利要求5所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述透光槽(711)设有五个,用于识别所述衰减片(72)档位的所述光电开关(74)设有三个。
7.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述波长测试组件(5)包括安装于所述分光镜座B(3)远离所述分光镜座A(2)的侧面上的连接座(51),连接座(51)内开设有中心轴线与波长测试孔(32)中心轴线重合的第一通孔(52);
第一通孔(52)内接近所述分光镜座B(3)一端设有双凸透镜(53),第一通孔(52)内远离所述双凸透镜(53)一端设有滑动连接于第一通孔(52)内的光谱仪组件(54)。
8.根据权利要求7所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述连接座(51)表面还开设有连通第一通孔(52)的滑动孔(511);所述光谱仪组件(54)包括滑动连接于滑动孔(511)内的锁紧件(541)和滑动连接于所述第一通孔(52)内的光纤固定头(542),所述光纤固定头(542)与所述锁紧件(541)螺纹连接以实现锁紧件(541)带动所述光纤固定头(542)在第一通孔(52)内滑动或固定于第一通孔(52)内。
9.根据权利要求2所述的一种MCD的测试装置,其特征在于,所述安装面(23)两端均连接有抵接面(22),且分光镜座A(2)与所述分光镜座B(3)通过螺钉固定相互抵接的抵接面(22)。
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