[实用新型]温度测试装置有效

专利信息
申请号: 201821200914.2 申请日: 2018-07-26
公开(公告)号: CN208688674U 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 谢小飞 申请(专利权)人: 深圳市亚派光电器件有限公司
主分类号: G01K7/02 分类号: G01K7/02;G05D23/22;G01M11/02
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 温度测试装置 光模块 测试箱 容置腔 本实用新型 测试控制 冷热冲击 进风口 测试效率 电性连接 温度检测 用户使用 冲击头 出风口 连通 测试 检测
【说明书】:

实用新型公开一种温度测试装置,该温度测试装置用于光模块的温度检测,所述温度测试装置包括:测试箱,所述测试箱形成有容置腔,所述容置腔形成有进风口和出风口;测试控制组件,所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内,并与所述光模块电性连接;以及冷热冲击组件,所述冷热冲击组件所述冲击头固定在测试箱上,并与所述进风口连通。本实用新型技术方案旨在在短时间内完成光模块需要检测的温度的变换,缩短光模块的测试时间,提高测试效率,方便用户使用。

技术领域

本实用新型涉及光学检测技术领域,特别涉及一种温度测试装置。

背景技术

光模块的光电性能测试一般需按照高温、低温、常温分为三次进行高低温测试,目前主要是将待测试的光模块放在可控制温度的恒温箱中进行光电性能测试,或在冷热冲击箱进行测试。如此,每次对光模块进行测量时都需要将光模块取出,再放入不同温度的测试箱进行测量,但是随着生产的产量提升需求,需要缩短光模块的温度测试时间,并且提高测试箱的升温和降温速率,以便保证在短时间内完成测试。现有的光模块测试箱不能在短时间内完成光模块需要的测试温度的变换,从而导致光模块的测试时间较长,测试效率较低,不方便用户使用。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种温度测试装置,旨在在短时间内完成光模块需要检测的温度的变换,缩短光模块的测试时间,提高测试效率,方便用户使用。

为实现上述目的,本实用新型提供的温度测试装置,用于光模块的温度检测,所述温度测试装置包括:

测试箱,所述测试箱形成有容置腔,所述容置腔形成有进风口和出风口;

测试控制组件,所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内,并与所述光模块电性连接;以及

冷热冲击组件,所述冷热冲击组件包括冲击头,所述冲击头固定在测试箱上,并与所述进风口连通。

可选地,所述冷热冲击组件包括压缩机和输气管,所述输气管的一端与所述压缩机连通,另一端与所述冲击头连通,所述输气管形成有第一进气通道,所述冲击头形成有第一出气通道和位于所述第一出气通道内的第二进气通道,所述第二进气通道连通所述第一进气通道和所述进风口。

可选地,所述温度测试装置还包括衔接板,所述衔接板环绕所述冲击头设置,并将所述冲击头和所述测试箱的连接处密封连接。

可选地,所述温度测试装置还包括排气管和消声器,所述排气管与所述冲击头固定连接,所述消声器固定于所述排气管背离所述冲击头的端部,所述排气管内形成有第二出气通道,所述第二出气通道与所述第一出气通道连通。

可选地,测试控制组件包括:

测试板,所述测试板容置于所述容置腔内,并形成有用于与所述光模块连接的插拔接口;

测温件,所述测温件测试所述光模块的温度,所述测温件容置于所述容置腔内;以及

控制器,所述测试板和所述测温件均与所述控制器电性连接。

可选地,所述测温件包括:

固定支架,所述固定支架容置于所述容置腔内,并与所述测试箱固定连接;

驱动部,所述驱动部用于驱动所述热电偶靠近或远离所述插拔接口运动,所述驱动部与所述固定支架固定连接;以及

热电偶,所述热电偶与所述固定支架活动连接,并测试所述光模块的温度,所述驱动部驱动所述热电偶靠近或远离所述插拔接口运动,所述热电偶与所述控制器电性连接。

可选地,所述温度测试装置还包括连接线缆,所述测试箱还形成有过线孔,所述连接线缆穿过所述过线孔件将所述测试板和所述控制器电性连接,将测试板的信号及时传输至外部的测试仪器;

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