[实用新型]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201821206107.1 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN208767302U 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 河崎一茂 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体芯片 基础部件 积层体 半导体装置 本实用新型 交替积层 最下层 排列配置 低成本
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:

基础部件;

第1积层体,包含交替积层在与所述基础部件的表面交叉的第1方向的第1半导体芯片与第2半导体芯片;及

第2积层体,在沿所述基础部件的所述表面的第2方向与所述第1积层体排列配置,且包含交替积层在所述第1方向的其他第1半导体芯片与其他第2半导体芯片;且

所述第1积层体包含与所述基础部件连接的最下层的第1半导体芯片,

所述第2积层体包含与所述基础部件连接的最下层的第2半导体芯片。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中所述第1半导体芯片及所述第2半导体芯片分别具有半导体基板、及设置在所述半导体基板上的功能层,

所述第1积层体及所述第2积层体包含:第1接合部,使所述第1半导体芯片的功能层与所述第2半导体芯片的功能层对向接合;及第2接合部,使所述第1半导体芯片的半导体基板与所述第2半导体芯片的半导体基板对向接合。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其中所述第1半导体芯片及所述第2半导体芯片分别具有:接合焊垫,设置在所述功能层上;及连接焊垫,设置在所述半导体基板的与所述功能层为相反侧的背面侧;且

所述第1接合部包含将所述第1半导体芯片的接合焊垫与所述第2半导体芯片的接合焊垫直接连接的部分,

所述第2接合部包含将所述第1半导体芯片的连接焊垫与所述第2半导体芯片的连接焊垫经由连接部件连接的部分。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,其进而具备与所述第1积层体及所述第2积层体电性连接的第3半导体芯片,

所述第3半导体芯片具有指令端子与数据端子,

所述第1积层体及所述第2积层体分别具有与所述指令端子连接的第1端子、及与所述数据端子连接的第2端子,

所述第1积层体的第1端子与所述第2积层体的第1端子在所述第2方向上排列配置,

所述第1积层体的第2端子与所述第2积层体的第2端子在所述第2方向上排列配置。

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