[实用新型]一种探针组件及测试治具

说明书

本实用新型公开了一种探针组件，包括基座、探针和推钮，所述基座内部设有空腔，所述基座上设有多个穿孔，所述探针穿过所述穿孔并与所述穿孔间隙配合，所述探针用于所述穿孔内来回运动，所述基座上与所述穿孔所在面垂直的一侧设有多个滑槽，所述滑槽与所述空腔连通，所述推钮设置于所述滑槽内并与所述滑槽滑动配合，所述推钮伸入所述空腔内，所述探针与所述推钮位于所述空腔内的部分固定连接，所述推钮用于带动所述探针伸出和收入所述基座内。利用推钮和探针结合，使探针形成可伸出和收回的结构，可自由调节探针组件伸出的探针数量。本实用新型还公开了一种采用上述探针组件的测试治具。

技术领域

本实用新型涉及屏幕测试治具技术领域，特别是涉及一种探针组件及测试治具。

背景技术

显示行业在开发新产品时，需对导电玻璃上的银路进行测试，确定其为通路或断路。

现有的测试方法多采用万用表进行测试，利用万用表的探针接触导电玻璃上的银路，从而检测器通断，并记录对应测试点的通断情况。当存在大量的待测试件时，需对每个待测试件依次进行测试。

万用表需依次对每个待测试件进行测试，效率较低，需消耗较多的人力，且多次测试记录会增加出错的概率。授权号CN 203759063 U公开了一种探针测试治具，通过在基座上同时设置多根探针，实现了同时对多块小型导电玻璃的测试，但由于其存在多根探针，当只需对单一导电玻璃进行测试时，额外的探针会影响测试工作的进行。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于提出一种既能测试单一导电玻璃又能同时测试多个导电玻璃的探针组件。

一种探针组件，包括基座、探针和推钮，所述基座为中空的壳体结构，所述基座内部设有空腔，所述基座上设有多个穿孔，所述探针穿过所述穿孔并与所述穿孔间隙配合，所述探针用于所述穿孔内来回运动，所述基座上与所述穿孔所在面垂直的一侧设有多个滑槽，所述滑槽与所述空腔连通，所述推钮设置于所述滑槽内并与所述滑槽滑动配合，所述推钮伸入所述空腔内，所述探针与所述推钮位于所述空腔内的部分固定连接，所述推钮用于带动所述探针伸出和收入所述基座内。

根据本实用新型提出的探针组件，利用推钮和探针结合，使探针形成可伸出和收回的结构，当需同时测试多个导电玻璃时，可伸出对应数量的探针，当只需要测试单个导电玻璃时，只需伸出一根探针即可，其余探针不会影响测试。

另外，根据本实用新型提供的探针组件，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，单个所述推钮连接一根探针。

进一步地，单个所述推钮同时连接多根探针，则单个推钮能同时控制多根探针的伸出和收入。

进一步地，所述推钮与所述空腔内壁接触，防止推钮在运动过程中发生扭曲。

进一步地，所述推钮与所述空腔内壁的接触面设有光滑层或滑轮，降低推钮与空腔内壁的摩擦力，便于推钮的调节。

进一步地，所述推钮与所述空腔内壁的接触面较所述推钮的自动端大，则增大了推钮与空腔内壁的接触面积，起到了支撑作用，降低了推钮与空腔内壁接触端扭曲的几率。

进一步地，所述基座上位于所述推钮两侧分别设有上推板和下推板，所述上推板与所述下推板均与所述滑槽滑动配合，所述上推板和所述下推板分别用于整体推动所有所述推钮下移和上移，则可同时收入或伸出所有的探针，不用依次调节每个推钮。

进一步地，所述上推板和所述下推板均通过滑块与所述滑槽滑动配合，所述滑块位于单个或多个所述滑槽内，当滑块位于多个滑槽内时能增加上推板和下推板的滑动强度，防止发生侧偏或扭转。

进一步地，所述推钮与所述滑槽接触的部分和所述滑块上均设有凸块，所述滑槽对应所述凸块设有凹槽，所述凸块与所述凹槽滑动配合，由于凸块和凹槽的配合，使推钮、上推板和下推板无法脱离基座。