[实用新型]晶振检测电路

权利要求书

1.一种晶振检测电路，其特征在于，所述晶振检测电路包括振荡器、放大电路、倍压整流电路和万用表；

被测晶振依次与所述振荡器、所述放大电路和所述倍压整流电路电连接；

所述万用表与所述倍压整流电路并联连接；

所述振荡器用于将所述被测晶振输入的时钟信号转换为交流电信号，并传输至所述放大电路；

所述放大电路用于对所述交流电信号进行放大处理，并传输至所述倍压整流电路；

所述倍压整流电路用于将放大处理后的所述交流电信号倍压整流成直流电信号；

所述万用表用于测量所述直流电信号对应的电压值。

2.如权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述晶振检测电路还包括稳压集成芯片；

所述稳压集成芯片的输入端与外接电源电连接，所述稳压集成芯片的输出端分别与所述振荡器和所述放大电路电连接，所述稳压集成芯片的接地端接地；

所述稳压集成芯片用于给所述晶振检测电路供电。

3.如权利要求2所述的晶振检测电路，其特征在于，所述振荡器包括电容三点式振荡器。

4.如权利要求3所述的晶振检测电路，其特征在于，所述电容三点式振荡器包括第一三极管、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容和第三电容；

所述第一三极管的基极分别与所述第一电容的一端、所述第二电容的一端、所述第一电阻的一端电连接；

所述第一三极管的集电极分别与所述第一电阻的另一端、所述第二电阻的一端和所述第三电容的一端电连接；

所述第一三极管的发射极分别与所述第一电容的另一端、所述第三电容的另一端电连接；

所述第二电阻的另一端与所述稳压集成芯片的输出端电连接；

所述第一电容的另一端和所述第一电阻的另一端均与所述被测晶振电连接。

5.如权利要求4所述的晶振检测电路，其特征在于，所述放大电路包括第二三极管和第三电阻；

所述第二三极管的基极与所述第三电容的一端电连接；

所述第二三极管的集电极与所述稳压集成芯片的输出端电连接；

所述第二三极管的发射极与所述第三电阻的一端电连接；

所述第三电阻的另一端接地。

6.如权利要求5所述的晶振检测电路，其特征在于，所述倍压整流电路包括第四电容、第五电容、第一整流二极管和第二整流二极管；

所述第四电容的一端与所述第二三极管的发射极电连接，所述第四电容的另一端分别与所述第一整流二极管的一端、所述第二整流二极管的一端电连接；

所述第一整流二极管的另一端与所述第五电容的一端电连接；

所述第二整流二极管的另一端和所述第五电容的另一端均接地。

7.如权利要求6所述的晶振检测电路，其特征在于，所述晶振检测电路还包括可调电阻器；

所述可调电阻器的一端与所述第五电容的一端电连接，所述可调电阻器的另一端与所述第五电容的另一端电连接；

所述万用表的一端与所述第五电容的一端电连接，所述万用表的另一端与所述第五电容的另一端电连接。