[实用新型]一种研磨治具

说明书

本实用新型提供了一种研磨治具，支持对电子元器件产品的多面研磨，可以在研磨时观测电子元器件产品，其结构简单，成本低，使用方便，适用范围广，所述治具本体的前部设有通槽将所述治具本体的前部分成左、右夹紧块，所述左、右夹紧块的下端分别设有凹槽，样品黏附座能够嵌入所述凹槽中，所述凹槽延伸至所述左、右夹紧块的前侧使得所述样品黏附座的前侧面能够从所述凹槽中露出，锁紧螺丝从侧面穿过所述左、右夹紧块，旋转所述锁紧螺丝能够使得所述左、右夹紧块夹紧所述样品黏附座，所述治具本体的上端设置有万向水平仪器。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件制造行业的失效分析技术领域，尤其涉及一种研磨治具。

背景技术

电子元器件在设备运行过程中极易发生破坏，因此关于电子元器件的破坏性物理分析对于相关设备的运行及维护方面具有十分重要的作用，并且对于提高电子元器件的质量及使用效果也具有十分重要的积极作用，电子元器件的破坏性物理分析是指对元器件进行解剖，对内部结构元素进行分析，从而来验证评价元器件在设计方面，结构组合，运用材料及销量效果方面是否符合相关标准，是否达到了预定的使用效果及相关质量要求。

现有技术中有以下设备可以用于破坏性物理分析：

（1）树脂灌封横截面研磨，该方法确保样品固定在树脂中，在研磨过程中很稳定，但是只能进行单面的研磨，并且样品固定在树脂中后很难再取出。

（2）离子抛光研磨机器，该方法为全自动横截面研磨分析，完成研磨后，样品横截面光滑平整，能够在高倍电子显微镜下进行观察；但是研磨尺寸受限，不能进行边研磨边观察，并且制样复杂，容易造成样品研磨面倾斜。

（3）FIB设备，该方法同样为横截面切割后分析，横截面图片非常平整，适合高倍电子显微镜进行观察，并且能够精确切割方位；但是研磨尺寸受限，适合微观分析，同时不适合样品数量较多的分析案子。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种研磨治具，支持对电子元器件产品的多面研磨，可以在研磨时观测电子元器件产品，其结构简单，成本低，使用方便，适用范围广。

其技术方案是这样的：一种研磨治具，包括治具本体，其特征在于：所述治具本体的前部设有通槽将所述治具本体的前部分成左、右夹紧块，所述左、右夹紧块的下端分别设有凹槽，样品黏附座能够嵌入所述凹槽中，所述凹槽延伸至所述左、右夹紧块的前侧使得所述样品黏附座的前侧面能够从所述凹槽中露出，锁紧螺丝从侧面穿过所述左、右夹紧块，旋转所述锁紧螺丝能够使得所述左、右夹紧块夹紧所述样品黏附座，所述治具本体的上端设置有万向水平仪器。

进一步的，所述治具本体的后侧的两端分别设有螺丝固定部，所述螺丝固定部上设有高度调节螺丝，所述高度调节螺丝包括设有内螺纹的平衡调节螺丝和设有外螺纹的尼龙螺丝，所述螺丝固定部上设有螺纹孔，所述尼龙螺丝与所述螺纹孔螺纹配合且所述尼龙螺丝的下端从所述螺丝固定部的下端露出，所述平衡调节螺丝与所述尼龙螺丝配合设置在所述螺丝固定部的上端。

进一步的，所述样品黏附座的下表面和前侧面上均布有呈波浪形设置的大小一致的凸起。

进一步的，所述治具本体上设有螺纹孔，还包括增重块，所述增重块设有与所述螺纹孔相匹配的螺纹连接部，所述增重块通过所述螺纹连接部与所述螺纹孔螺纹配合安装在所述治具本体上。

进一步的，所述样品黏附座的前侧面的一侧设有样品限位条。

进一步的，所述治具本体的通槽上设有竖向设置的螺纹槽，所述螺纹槽内设置有内六角螺丝。