[实用新型]一种玻璃基板取样的辅助机构有效
申请号: | 201821227302.2 | 申请日: | 2018-08-01 |
公开(公告)号: | CN209311117U | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 延洪剑 | 申请(专利权)人: | 彩虹显示器件股份有限公司 |
主分类号: | G01N1/04 | 分类号: | G01N1/04 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 712021 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 取样 钢尺 玻璃基板 竖直 本实用新型 辅助机构 竖直导轨 竖直滑块 水平导轨 水平滑块 固定架 支撑板 滑块 边框 测量距离 方便操作 竖直边框 水平边框 测量尺 导轨 顶边 测量 | ||
本实用新型公开了一种玻璃基板取样的辅助机构,包括取样架,取样架包括支撑板和固定于支撑板上的固定架,固定架包括两个顶边相接的第一斜面和第二斜面,第一斜面四周均设置有边框,水平边框上设置有水平导轨,竖直边框上设置有竖直导轨,水平导轨和竖直导轨上分别设置有水平滑块和竖直滑块,水平滑块和竖直滑块分别与水平钢尺和竖直钢尺一端固定连接,本实用新型在取样架上设置导轨和滑块,并在滑块上设置测量尺,使水平钢尺与竖直钢尺与玻璃基板保持绝对的水平或者竖直从而降低测量误差,且适用于单人取样时,即使测量距离较远的坐标很方便操作。
技术领域
本实用新型属于玻璃基板生产技术领域,具体涉及一种玻璃基板取样的辅助机构。
背景技术
在玻璃基板取样分析时,需要确定微小异物在玻璃基板中的位置,然后裁切成便于携带的小样品在高倍数的显微镜下观察,这就要求在取样过程中,不仅需要非常高的洁净度,同时还对异物坐标的精准度有很高的要求。现有的技术中,取样工具为钢卷尺,在量取异物坐标时存在许多原因导致取样分析的不准确,例如,测量时由于人为因素导致卷尺并不能与玻璃基板保持绝对的水平或者竖直从而出现测量误差;单人取样时,如果测量距离较远的坐标很容易使卷尺脱落造成多次重复劳动。
发明内容
为了解决上述问题,本实用新型提供了一种玻璃基板取样的辅助机构,该辅助机构能精确的测量异物的坐标位置,并且操作简便。
为达到上述目的,本实用新型所述一种玻璃基板取样的辅助机构包括取样架,取样架包括支撑板和固定于支撑板上的固定架,固定架包括顶边相接的第一斜面和第二斜面,第一斜面四周均设置有边框,水平边框上设置有水平导轨,竖直边框上设置有竖直导轨,水平导轨和竖直导轨上分别设置有水平滑块和竖直滑块,水平滑块和竖直滑块分别与水平钢尺和竖直钢尺一端固定连接。
进一步的,水平钢尺的下表面和竖直钢尺的上表面贴合。
进一步的,第一斜面和第二斜面均为中部镂空结构,两个斜面与水平面的夹角均大于90°。
进一步的,第一斜面上镂空的部分设置有若干条用于对玻璃其支撑作用的支撑线。
进一步的,支撑线采用铝线或塑料线。
进一步的,支撑板下端设置有万向自锁轮。
进一步的,取样架由铝制成。
与现有技术相比,本实用新型至少具有以下有益的技术效果,本实用新型在取样架上设置导轨和滑块,并在滑块上设置测量尺,使水平钢尺与竖直钢尺与玻璃基板保持绝对的水平或者竖直从而降低测量误差,且适用于单人取样时,即使测量距离较远的坐标很方便操作。
进一步的,水平钢尺的下表面和竖直钢尺的上表面贴合。能有效避免水平钢尺和竖直钢尺发生干涉而产生的误差,提高测量精度。
进一步的,第一斜面和第二斜面均为中部镂空结构,两个斜面与水平面的夹角均大于90°,节省材料和本装置的重量,方便测量。
进一步的,第一斜面上镂空的部分设置有若干条用于对玻璃其支撑作用的支撑线,当玻璃放置在第一斜面时,铝线能够在中部对玻璃其支撑作用,避免因为玻璃受重力影响
进一步的,支撑板下端设置有万向自锁轮,方便移动。
进一步的,取样架由铝制成。重量轻,且其自身不会产生材料的碎末,能够保证玻璃基板表面清洁。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
附图中:1、竖直钢尺,2、水平钢尺,3、水平滑块,4、竖直滑块,51、支撑板,52、固定架,6、水平导轨,7、竖直导轨,8、支撑线。
具体实施方式
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