[实用新型]一种纳米粒子粒径分布测试仪有效
申请号: | 201821253347.7 | 申请日: | 2018-08-06 |
公开(公告)号: | CN208443697U | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 段兴汉;武桐 | 申请(专利权)人: | 上海景瑞阳实业有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N15/10 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王戈 |
地址: | 200000 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品舱 舱壁 信号处理器 激光器 测试仪 聚光镜 输出端 本实用新型 光电探测器 射频接收器 射频振荡器 纳米粒 光信号传输 计算机连接 测试 缠绕固定 感应线圈 极性相反 粒径分布 纳米粒子 永久磁铁 单片机 控制端 透明的 斜上方 磁铁 激光 穿过 计算机 | ||
1.一种纳米粒子粒径分布测试仪,其特征在于,所述测试仪包括:激光器、样品舱、单片机、永久磁铁、射频振荡器、射频接收器、聚光镜、光电探测器、信号处理器和计算机;
所述样品舱包括透明的舱壁;所述激光器位于所述样品舱的斜上方,所述聚光镜位于所述样品舱的斜下方,且所述激光器发出的激光穿过所述样品舱的舱壁到达所述聚光镜;所述聚光镜将接收的光信号传输至所述光电探测器,所述光电探测器的输出端与所述信号处理器的第一输入端连接;
所述单片机的第一端与所述激光器的控制端连接,用于调节所述激光器的脉冲信号;所述单片机的第二端与所述射频振荡器的控制端连接,用于调节所述射频振荡器的射频信号;所述永久磁铁包括极性相反的第一磁铁和第二磁铁;所述第一磁铁和所述第二磁铁分别位于所述样品舱舱壁的两侧;所述射频振荡器位于所述样品舱的底部;所述射频接收器的感应线圈缠绕固定于所述样品舱的舱壁的外侧;所述射频接收器的输出端与所述信号处理器的第二输入端连接;
所述信号处理器的输出端与计算机连接,所述信号处理器用于对接收的信号进行调理,所述计算机用于根据信号处理器传输的信号计算纳米粒子的弛豫时间,进而获得纳米粒子的粒径分布参数。
2.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于,所述样品舱为透明石英管,所述透明石英管的激光透过率为85%以上,长度为50mm-120mm,外径为4-10mm,所述石英管的材质为天然或者人工石英。
3.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于,所述激光器为半导体激光二极管,输出功率为65mW,中心波长为600-658nm。
4.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于,所述永久磁铁为钕铁硼磁铁或钐钴永磁铁,场强为0.3T,频率为13MHz。
5.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于,所述光电探测器为光电倍增管单光子探测器或雪崩光电二极管单光子探测器。
6.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于,所述聚光镜为双傅里叶镜头装置,散射光程为200-2000μm。
7.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于,所述测试仪检测的纳米粒子的粒径范围为1-6000nm。
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