[实用新型]存储装置有效
申请号: | 201821257268.3 | 申请日: | 2018-08-06 |
公开(公告)号: | CN209496897U | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 伊藤雄一;松尾浩司 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L43/08 | 分类号: | H01L43/08;H01L43/12 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 上表面 状态变化层 存储装置 强磁性体 粗糙度 非磁性体 导电体 存储器元件 下表面 衬底 半导体 | ||
【权利要求书】:
1.一种存储装置,其特征在于具备:
状态变化层,设置在半导体衬底的上方,且具有切换功能;
电极,设置在所述状态变化层的上表面上,包含碳,具备具有第1表面粗糙度的下表面,且具备具有低于所述第1表面粗糙度的第2表面粗糙度的上表面;
第1强磁性体,位于所述状态变化层的上方;
非磁性体,位于所述第1强磁性体的上表面上;及
第2强磁性体,位于所述非磁性体的上表面上。
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