[实用新型]高精度铂电阻测量电路

说明书

本实用新型涉及一种高精度铂电阻测量电路，所述电路包括铂电阻、计量芯片、控制器及显示通讯电路，所述铂电阻设置有三个端口，所述计量芯片设置有三个差模采样通道，三个所述端口与三个所述差模采样通道分别对应连接，所述铂电阻测量数据并将所述测量数据通过所述计量芯片的三个差模采样通道将所述测量数据发送至控制器，所述控制器接收所述测量数据并处理，然后将处理后的数据通过显示通讯电路显示或传输；所述高精度铂电阻测量电路还包括设置在所述计量芯片及控制器中间的光耦隔离电路。本实用新型通过在计量芯片与控制器之间设置有光耦隔离电路，使被隔离的两部分电路之间没有电的直接连接，防止因有电的连接而引起的干扰。

技术领域

本实用新型涉及一种高精度铂电阻测量电路。

背景技术

现存工业用铂电阻PT100大都为三线制，要达到测量高精度误差0.1℃，需要使用电桥测量电路，经过运放电路，再使用昂贵的高精度的AD采样芯片(比如ADAD7793)处理得到铂电阻的温度值,如果要隔离采样还需要隔离的线性光耦；不仅电路复杂，而且成本高。并且计量芯片采样速率取决于AD转换的速率，对于AD要求转换速率高达到uS级别的应用场合暂不适合。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种成本低廉、测量精度高、结构简单的高精度铂电阻测量电路。

为达到上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高精度铂电阻测量电路，所述电路包括铂电阻、计量芯片、控制器及显示通讯电路，所述铂电阻设置有三个端口，所述计量芯片设置有三个差模采样通道，三个所述端口与三个所述差模采样通道分别对应连接，所述铂电阻测量数据并将所述测量数据通过所述计量芯片的三个差模采样通道将所述测量数据发送至控制器，所述控制器接收所述测量数据并处理，然后将处理后的数据通过显示通讯电路显示或传输；所述高精度铂电阻测量电路还包括设置在所述计量芯片及控制器中间的光耦隔离电路。

进一步地，所述三个所述端口与三个所述差模采样通道分别对应连接具体为：

所述铂电阻包括第一端、第二端及第三端，所述计量芯片包括第一差模采样通道、第二差模采样通道及第三差模采样通道，所述第一端与所述第一差模采样通道连接，所述第二端与所述第二差模采样通道连接，所述第三端与所述第三差模采样通道连接。

进一步地，所述控制器为单片机。

进一步地，高精度铂电阻测量电路还包括给各电路提供电源的供电电路。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型通过在计量芯片与控制器之间设置有光耦隔离电路，使被隔离的两部分电路之间没有电的直接连接，防止因有电的连接而引起的干扰。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1为本实用新型的高精度铂电阻测量电路的结构示意图。

图2为图1中的部分结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。