[实用新型]一体式内花键齿槽宽及位置精度检具有效
申请号: | 201821264029.0 | 申请日: | 2018-08-07 |
公开(公告)号: | CN208476134U | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 金九如;黄廷波;李荫现;龚仁春 | 申请(专利权)人: | 江苏飞船股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/00 |
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地址: | 225516 江苏省泰州市姜堰*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 定位套 花键 塞规 内花键 位置精度检具 本实用新型 定位轴段 轴向通孔 齿槽宽 弹簧 挡圈 弹性伸缩结构 基准位置误差 外花键轴段 手柄 定位基准 检测工件 检测结果 同轴相连 导向轴 检测 沉孔 齿槽 同轴 限位 轴向 安置 | ||
本实用新型公开了一种一体式内花键齿槽宽及位置精度检具,它由花键塞规、挡圈、弹簧和定位套共同组成。所述花键塞规由同轴相连的导向轴段、外花键轴段、定位轴段和手柄组成。所述定位套设有同轴的沉孔和轴向通孔,定位套以轴向通孔套装在花键塞规的定位轴段上,并由挡圈限位。所述弹簧安置在定位套与花键塞规之间,由此组成轴向弹性伸缩结构。本实用新型一并检测工件内花键的齿槽宽和连接基准位置误差,由于在同一定位基准条件下检测,因此检测结果准确,还提高检测效率一倍以上。
技术领域
本实用新型涉及一种用于测量机械零件精度的检具,具体地讲,本实用新型涉及一种用于测量内花键齿槽精度的检具,特别是一种一体式内花键齿槽宽及位置精度检具。
背景技术
花键传动是一种通用机械连接结构,它具有结构简单、传动可靠等特点。常见的花键连接结构由相互配合的外花键和内花键组成,由于内花键处在工件内孔中,其制造难度相对外花键大些,特别是对齿槽宽和花键节圆母线与传动件连接基准位置误差测量难度大,一般通用检具无法用于测量。现有技术条件下,尽管可以采用专用检测仪或三座标测量仪进行定量检测,但是这些方法测量条件要求高,测量效率低,完全不适合在线测量。为了满足在线测量需求,本行业通常按标准规定值设计专用塞规,这种功能单一的检具只能用于对位测量,即只能对内花键的尺寸误差进行评价,而不能用于内花键的位置误差测量。此结构缺陷易产生单项检测合格,而产品安装质量常有不合格的问题。
实用新型内容
本实用新型主要针对现有技术的不足,提出一种结构简单、检测效率高,能够客观反映被检内花键质量的一体式内花键齿槽宽及位置精度检具。该检具在检测内花键齿槽宽尺寸的基础上,又能对花键节母线与传动件连接基准位置误差的测量。
本实用新型通过下述技术方案实现技术目标。
一体式内花键齿槽宽及位置精度检具,它由花键塞规、挡圈、弹簧和定位套共同组成。所述花键塞规是一种多台肩轴,它设有依次相连接的导向轴段、外花键轴段、定位轴段和手柄轴段。所述定位套由内置同轴的沉孔和通孔组成。其改进之处在于:所述定位套以轴向通孔套装在花键塞规的定位轴段上,并且用设有径向锁紧螺钉的挡圈作轴向限位。所述弹簧安置在定位套与花键塞规之间组成轴向弹性伸缩结构。
作为进一步改进方案, 所述花键塞规的导向轴段外径d'按工件的内花键孔对确定,d'配合公差比工件标定值至少高一个等级。
作为进一步改进方案,所述花键塞规的外花键段与工件内花键配合,两者配合公差比工件标定值至少高一个等级。
作为进一步改进方案,所述定位套的沉孔内径D'等于工件定位台肩外径D,两者配合公差比工件标定值到少高一个等级。
作为进一步改进方案,所述定位套的轴向通孔内径d等于花键塞规的定位轴段外径,两者配合为过渡配合。
作为进一步改进方案,所述弹簧为压缩型弹簧。
本实用新型与现有技术相比,具有以下积极效果:
1、花键塞规与定位套同轴套合形成的一体式检测结构简单、制作容易、操作简便;
2、在定位检测内花键齿槽宽的基础上,顺序作花键节圆母线与传动件连接基础的位置误差测量,由于在同一基准条件下测量,检测结果准确;
3、内花键的尺寸和形位误差一并检测,检测效率至少提高一倍。
附图说明
图1是本实用新型结构剖面示意图。
具体实施方式
下面根据附图并结合实施例,对本实用新型作进一步说明。
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