[实用新型]按键测试装置

说明书

本申请实施例提供了一种按键测试装置，适于测试电子设备的待测试按键，按键测试装置包括基座、测试探针、按键按压装置以及测控模块。基座用于放置电子设备。测试探针包括第一探针和第二探针，第一探针以及第二探针均设置于基座上方，并可选择性地与测试接触点抵靠接触。按键按压装置设置于基座，按键按压装置具有按压部以及按压驱动装置，按压部与待测试按键相对设置，按压驱动装置驱动按压部按压待测试按键。测控模块和测试探针和按压驱动装置电连接。通过测试探针与按键按压装置的配合，实现对电子设备的按键的功能测试，整个测试过程由测控模块控制自动进行，实现了测试的自动化，提高了测试精度，避免了漏测等弊端。

技术领域

本申请涉及电子设备测试技术领域，具体涉及一种按键测试装置。

背景技术

电子设备通常会设置按键，用于与用户进行人机交互操作，这些按键可能是物理按键或是虚拟触控按键，这些按键在出厂前均需要进行测试，以保证按键的正常功能实现，现有的测试方式效率低下，且测试精度较低。

实用新型内容

本申请的目的在于提供一种按键测试装置，以提高电子设备按键的测试效率以及准确性。

本申请实施例提供了一种按键测试装置，适于测试电子设备的待测试按键，电子设备具有测试接触点，包括基座、测试探针、按键按压装置以及测控模块。

基座用于放置电子设备。测试探针包括第一探针和第二探针，第一探针以及第二探针均设置于基座上方，并可选择性地与测试接触点抵靠接触。按键按压装置设置于基座，按键按压装置具有按压部以及按压驱动装置，按压部与待测试按键相对设置，按压驱动装置驱动按压部按压待测试按键。测控模块和测试探针和按压驱动装置电连接。

相对于现有技术，本申请提供的按键测试装置，通过测试探针与按键按压装置的配合，可以实现对电子设备的侧按键的功能测试，整个测试过程由测控模块控制自动进行，实现了测试的自动化，提高了测试精度，避免人工测试带来的测试效率低以及漏测等弊端。

本申请的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请第一实施例提供的按键测试装置在第一视角下的结构示意图；

图2是本申请第一实施例提供的按键测试装置在第二视角下的结构示意图；

图3是本申请第一实施例提供的按键测试装置的控制框图；

图4是本申请第一实施例提供的按键测试装置的固定部的结构示意图；

图5是本申请第一实施例提供的按键测试装置的固定件的结构示意图；

图6为图1中Ⅵ处的放大图；

图7是本申请第二实施例提供的按键测试装置的结构示意图；

图8是本申请第二实施例提供的按键测试装置中探针固持装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。