[实用新型]一种提高磁强计分辨率指标的系统有效
| 申请号： | 201821286111.3 | 申请日： | 2018-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN208421201U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 田蕊;陈德祥;冯强涛;刘艳龙 | 申请（专利权）人： | 北京鹏宇思睿科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02 |
| 代理公司： | 北京市盛峰律师事务所 11337 | 代理人： | 梁艳 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 映射系统 一阶 磁强计 二阶 映射 分辨率指标 无差系统 磁场 测量技术领域 模拟输出电压 本实用新型 元器件成本 测量磁场 电阻转换 反馈系统 个数量级 模拟电压 直接反馈 反馈源 分辨率 模模块 小量程 模/数 探头 抵消 平行 反馈 | ||
【权利要求书】：
1.一种提高磁强计分辨率指标的系统，其特征在于，包括：一阶无差系统、一阶映射系统和二阶映射系统，所述一阶映射系统和二阶映射系统为所述一阶无差系统的平行反馈系统，所述一阶映射系统通过反馈抵消绝大部分测量磁场，所述二阶映射系统利用磁强计模拟输出电压作为反馈源，通过电阻转换为电流直接反馈给磁强计探头。
2.根据权利要求1所述的提高磁强计分辨率指标的系统，其特征在于，所述一阶无差系统按照信号的流向依次包括磁强计探头、选频放大器、相敏检波器和积分放大器。
3.根据权利要求2所述的提高磁强计分辨率指标的系统，其特征在于，所述一阶映射系统按照信号的流向依次包括8位AD模块、处理器、8位DA模块和可控恒流源；所述二阶映射系统包括一个大阻值的反馈电阻。
4.根据权利要求3所述的提高磁强计分辨率指标的系统，其特征在于，所述AD模块采用8位的AD9280，所述DA模块采用8位的AD9708，所述处理器采用FPGA片子EP3C40F780,阈值设置为+4V和-4V，二阶映射反馈电阻为33kΩ。
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