[实用新型]校准辅助设备及校准系统

说明书

本实用新型提供一种校准辅助设备及校准系统，涉及集成电路技术领域。该校准辅助设备包括：信号转接板，所述信号转接板设置有第一信号接口、第二信号接口和信号转接电路，所述第一信号接口与待校准的集成电路测试设备的数据出接口匹配，所述第二信号接口与校准仪表的数据入接口匹配，所述信号转接电路分别与所述第一信号接口和所述第二信号接口电连接。本实用新型实施例无需将集成电路测试设备进行脱产，即可进行维护和计量，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，特别涉及一种校准辅助设备及校准系统。

背景技术

随着集成电路技术的发展，各种各样芯片的应用也越来越广泛，芯片的质量的重要性也日益增大，集成电路测试设备能够对芯片进行测试，是保障芯片质量的关键。

现有技术中，需要定期将待校准的集成电路测试设备进行脱产维护和计量，接入专用的校准设备，该校准设备中设置有校准仪表，从而通过该校准设备中的校准仪表，对该待校准的集成电路测试设备中的仪表进行校准。

但由于需要依赖专用的校准设备，因而需要定期对待校准的集成电路测试设备进行脱产维护和计量，实施难度较大、生产成本较高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种校准辅助设备及校准系统，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

为实现上述目的，本实用新型实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本实用新型实施例提供了校准辅助设备，包括：信号转接板；所述信号转接板设置有第一信号接口、第二信号接口和信号转接电路，所述第一信号接口与待校准的集成电路测试设备的数据出接口匹配，所述第二信号接口与校准仪表的数据入接口匹配，所述信号转接电路分别与所述第一信号接口和所述第二信号接口电连接。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种校准系统，包括前述的校准辅助设备、校准仪表和计算设备；所述校准辅助设备通过所述第一信号接口与所述待校准的集成电路测试设备电连接，通过所述第二信号接口与所述校准仪表电连接；所述校准仪表和所述待校准的集成电路测试设备分别与所述计算设备通信连接；所述计算设备用于控制所述校准仪表和所述待校准的集成电路测试设备。

本实用新型的有益效果是：

在本新型实施例中，校准辅助设备包括信号转接板，且信号转接板包括第一信号接口和第二信号接口和信号转接电路。第一信号接口与待校准的集成电路测试设备的数据出接口匹配，因此能够从待校准的集成电路测试设备中获取待校准的模块或仪表发出的待校准信号。信号转接电路分别与第一信号接口和第二信号电连接，因此能够将从第一信号接口接收到的待校准信号转接至第二信号接口。第二信号接口与校准仪表的数据入接口匹配，因此，能够通过数据入接口，将待校准信号传输至校准仪表，从而确保了校准仪表能够基于所获取到的待校准信号，对待校准的集成电路测试设备中的模块或仪表进行校准。也即是，无需将待校准的集成电路测试设备进行脱产，即可进行维护和计量，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种校准辅助设备的结构框图；

图2为本实用新型实施例提供的另一种校准辅助设备的结构框图；

图3为本实用新型实施例提供的又一种校准辅助设备的结构框图；

图4为本实用新型实施例提供的校准系统的结构框图。