[实用新型]监控光模块老化过程的测试装置有效
| 申请号： | 201821337558.9 | 申请日： | 2018-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN208672028U | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 王宏;徐龙 | 申请（专利权）人： | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610092*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光模块 微处理器 测试装置 本实用新型 测光模块 接口电路 老化过程 监控光 并联 模拟开关电路 参数信息 测试效率 方便操作 供电电压 老化信息 模拟开关 偏置电流 实时监测 实时监控 通讯总线 信息读取 老化板 两路 路光 出错 连通 串联 激光 追溯 采集 查询 诊断 传递 监控 转换 记录 | ||
1.一种监控光模块老化过程的测试装置，包括：设置在光模块老化测试板上的接口电路，微处理器，模拟开关和提供工作电源的电源电路，其特征在于：接口电路至少并联两路微处理器，微处理器通过对应串联的模拟开关，并联n路光模块的信息读取接口；微处理器通过模拟开关电路连通指定的光模块通讯总线，采集被测光模块的数据，接口电路将I2C通信转换成PC机的USB通信，将监控到的光模块老化信息传递给PC机，对所有老化板上的光模块的工作状态进行实时监测、诊断，准确记录被测光模块每时每刻工作状态，工作温度，供电电压，激光偏置电流的重要参数，汇总、查询、追溯获取的光模块参数信息，找出链路中故障出现的位置。
2.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：电源电路提供老化测试板的所有部件工作电源，接口电路将连接老化测试板和上位机，微处理器负责所有光模块的数据采集和处理，模拟开关电路负责连通指定的光模块通讯总线。
3.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：微处理器通过模拟开关电路控制模拟开关的工作模式，选择光模块之间进行数据通信需要采集数据的光模块，实时监测其被测光收发模块收发信号参数信息，获取光模块参数信息。
4.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：接口电路通过12Ｃ通信接口串联模拟开关1、模拟开关2，通过２线串行总线对SFP光模块进行访问，读写光模块的电子抹除式可复写只读存储器EEPROM的数据信息。
5.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：微处理器实时采集来自模拟开关1、模拟开关2的光模块内部工作电压，温度，偏置电流，发射和接收光功率的参数信号，分别对这５个模拟量进行标定的校准，得到数字化测量结果。
6.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：微处理器选择ADI公司型号为ADuC7020的微处理器芯片，模拟开关选择ADI公司型号为ADG706BRUZ的模拟开关，模拟开关实现16路I2C总线切换。
7.如权利要求6所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：采用两个ADuC7020的微处理器芯片，分别带动两个ADG706BRUZ的模拟开关，每一个ADG706BRUZ的模拟开关带13个光模块。
8.如权利要求1所述的监控光模块老化过程的测试装置，其特征在于：电源电路包括接口电路电源，微处理器电源，模拟开关电源以及所有需要测试的光模块电源。
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