[实用新型]一种双头测试探针

说明书

本实用新型公开了一种双头测试探针，包括主体，所述主体的内部两侧分别活动安装有测试探针，两个所述测试探针之间固定设置有第一弹簧，两个所述测试探针靠近第一弹簧的一侧分别固定设置有卡簧机构，所述卡簧机构包括安装件，所述安装件的内侧固定设置有第二弹簧，所述主体的内部远离卡簧机构的一侧固定设置有滑杆，两个所述测试探针靠近第一弹簧的一端远离卡簧机构的而一侧固定设置有滑块。本实用新型通过卡簧机构的第二弹簧带动固定件与固定孔配合连接将调节的测试探针固定，从而根据不同长度需求的进行测试操作，通过设置滑杆和滑块将对测试探针进行限定移动位置，避免在使用测试探针的时候测试探针移动的位置偏移，导致第一弹簧损坏。

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体为一种双头测试探针。

背景技术

测试探针，是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件，随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段，探针主要类型：悬臂探针和垂直探针，但是现在的双头探针，在放置和运输的时候，不是很方便，携带的时候，常常会造成探针的损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种双头测试探针，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种双头测试探针，包括主体，所述主体的内部两侧分别活动安装有测试探针，两个所述测试探针之间固定设置有第一弹簧，两个所述测试探针靠近第一弹簧的一侧分别固定设置有卡簧机构，所述卡簧机构包括安装件，所述安装件的内侧固定设置有第二弹簧，所述第二弹簧远离测试探针的一侧固定设置有固定件，所述主体的内部远离卡簧机构的一侧固定设置有滑杆，两个所述测试探针靠近第一弹簧的一端远离卡簧机构的而一侧固定设置有滑块，所述滑块与滑杆之间配合连接，所述主体外侧表面靠近固定件的一侧固定设置有固定孔，所述主体外侧表面远离固定孔的一侧表面中部固定设置有接线机构，两个所述测试探针远离第一弹簧的一端通过螺纹活动安装有针头。

优选的，所述主体的两端测试探针的外侧固定设置有螺纹安装件，所述螺纹安装件的外侧通过螺纹活动安装有保护盖。

优选的，所述固定孔的外侧固定设置有橡胶盖。

优选的，所述第一弹簧的两端固定设置有安装套，两个所述安装套与测试探针靠近第一弹簧的一侧通过螺纹活动连。

优选的，所述针头的外侧固定设置有橡胶保护套。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过设置设置第一弹簧、第二弹簧，在其中一个探针使用的时候，通过将保护盖通过螺纹旋下，通过设置保护盖便于装置在运输过程中保护和不适用时的保护，通过将针头外侧的橡胶保护套取下，保护针头在部使用的时候或者在运输的过程中发生损坏，通过滑块在滑杆上滑动带动测试探针进行伸长或者缩短，通过卡簧机构的第二弹簧带动固定件与固定孔配合连接将调节的测试探针固定，从而根据不同长度需求的进行测试操作，通过设置滑杆和滑块将对测试探针进行限定移动位置，避免在使用测试探针的时候测试探针移动的位置偏移，导致第一弹簧损坏；

2、本实用新型通过设置橡胶盖，避免外界的灰尘和异物进入主体的内侧影响装置运行的效果，也同时具有一定的防水功能，通过设置安装套，便于装置各组件之间的组装与拆卸，同时也便于更换测试探针，同时通过将针头与测试探针分别开，由于针头易损坏便于更换针头，同时也可以根据不同的需求更换针头。

附图说明

图1为本实用新型一种双头测试探针整体结构示意图；

图2为本实用新型一种双头测试探针图1中A处的放大视图；

图3为本实用新型一种双头测试探针主视图。