[实用新型]一种封装测试探针有效
申请号: | 201821347872.5 | 申请日: | 2018-08-21 |
公开(公告)号: | CN209231394U | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 唐艳霞 | 申请(专利权)人: | 天津恒芯唯恩泰克电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R31/28 |
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地址: | 300450 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固定设置 弹簧 凸块 收缩 收缩杆 探针 握把 本实用新型 封装测试 活动安装 接线端 金属柱 伸缩杆 探针探针 凸块底端 折断 滑槽 滑块 针头 接线 外部 运输 | ||
1.一种封装测试探针,包括接线端(1),其特征在于:所述接线端(1)的一侧固定设置有握把(2),所述握把(2)远离接线端(1)一侧固定连接有伸缩杆(3),所述伸缩杆(3)外部固定设置有第一弹簧(4),所述第一弹簧(4)远离握把(2)一侧固定设置有金属柱(5),所述金属柱(5)远离第一弹簧(4)一侧固定设置有收缩杆(6),所述收缩杆(6)内部活动安装有收缩轴(7),所述收缩轴(7)内部活动安装有凸块(8),所述凸块(8)底端固定连接有第二弹簧(9),所述第二弹簧(9)远离凸块(8)一侧固定设置有限制块(10),所述收缩轴(7)远离凸块(8)一侧固定设置有滑块(11),所述收缩杆(6)内部远离凸块(8)一侧开设有滑槽(12),所述滑块(11)活动安装在滑槽(12)中,所述收缩杆(6)靠近凸块(8)一侧开设有若干圆孔(13),所述凸块(8)活动安装在圆孔(13)中,所述收缩轴(7)远离金属柱(5)一侧固定设置有探针柱(14),所述探针柱(14)远离收缩轴(7)一侧活动安装有探针(15),所述探针(15)外侧活动安装有旋钮(16),所述旋钮(16)靠近探针(15)一侧固定设置有压紧环(17),所述探针柱(14)靠近探针(15)一侧活动安装有金属槽(18)。
2.根据权利要求1所述的一种封装测试探针,其特征在于:所述接线端(1)远离握把(2)一侧开设有插孔(19)。
3.根据权利要求1所述的一种封装测试探针,其特征在于:所述凸块(8)靠近第二弹簧(9)一侧固定设置有挡板(23)。
4.根据权利要求1所述的一种封装测试探针,其特征在于:所述旋钮(16)下端固定设置有螺栓(20),所述探针(15)靠近旋钮(16)一侧开设有螺纹孔(21),所述螺栓(20)与螺纹孔(21)之间螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种封装测试探针,其特征在于:所述旋钮(16)外侧固定设置有防滑纹(22)。
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