[实用新型]一种可控硅耐冲击性能测试电路和设备

说明书

本申请实施例提供了一种可控硅耐冲击性能测试电路和设备，其中，可控硅耐冲击性能测试电路，包括：开关控制电路和可控硅安装构件；可控硅安装构件设置有控制电压输入端、电源连接端、电机连接端和插孔；插孔用于安装可控硅，电源连接端用于连接第一交流电源，电机连接端用于连接电机，控制电压输入端与开关控制电路的信号输出端连接，开关控制电路用于控制电机进行周期性正转和反转。因此，通过开关控制电路控制两个可控硅进行交替导通，来自动控制电机进行周期性的交替正反转，从而实现对可控硅进行正反向冲击，对可控硅的耐冲击性能进行测试，解决了人工操作电机正反转对可控硅的耐冲击性能进行测试时，错误率高、效率低的问题。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体而言，涉及一种可控硅耐冲击性能测试电路和设备。

背景技术

可控硅，是可控硅整流元件的简称，是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件，亦称为晶闸管。随着可控硅在麻将机、洗衣机等家用电器中的广泛应用，对可控硅的性能要求、可靠性要求日趁严苛。在可控硅工作过程中，电机会在正转和反转中进行切换，此时会对线路中的可控硅产生电流过冲，电流过冲可能会导致可控硅出现失效或者失控的情况。为了避免可控硅在工作过程中由于电机正转和反转切换时出现失效或失控情况，提升可控硅的可靠性，需要在可控硅上机前，对其进行正反向耐冲击性能测试。

目前的测试方法都是利用机械开关进行手动操作电机换向，通过电机转向时对可控硅造成的电流过冲时，检测可控硅的失效或失控情况，以实现可控硅可靠性的检测。

当前的检测方法主要存在三方面的问题：首先，人工操作电机换向时，电机正反转的时间不受控，时快时慢的电机正反转会影响测试结果；其次，手工操作比较繁琐，容易造成检测人员的疲劳，进而导致检测过程效率低，操作出错率大的问题；最后，人工计数容易受外界干扰，导致发生记错的情况。

实用新型内容

有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种可控硅耐冲击性能测试电路和设备，通过开关控制电路控制电机进行周期性正转和反转，当电机进行周期性正转和反转的时候，能够实现对安装在可控硅安装构件上的可控硅进行正反向冲击，对可控硅的耐冲击性能进行测试，解决了人工操作电机正反转对可控硅的耐冲击性能进行测试时，错误率高、效率低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种可控硅耐冲击性能测试电路，包括：开关控制电路以及可控硅安装构件；

所述可控硅安装构件设置有控制电压输入端、电源连接端、电机连接端以及插孔；

所述可控硅安装构件的插孔用于安装可控硅；

所述可控硅安装构件的电源连接端用于连接第一交流电源；

所述可控硅安装构件的电机连接端用于连接电机；

所述可控硅安装构件的控制电压输入端与所述开关控制电路的信号输出端连接；

所述开关控制电路用于控制电机进行周期性正转和反转。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中：所述可控硅安装构件包括：两个子构件；每个所述子构件均设置有三个所述插孔；

每个所述子构件的三个插孔分别用于插入所述可控硅的门极、第一主电极和第二主电极，且当所述可控硅的三个电极插入到所述子构件的三个插孔中后，所述门极与所述控制电压输入端连接；所述第一主电极和所述电机连接端连接；所述第二主电极和所述电源连接端连接。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中：所述开关控制电路，包括：正反转控制电路以及中间继电器；

所述正反转控制电路的信号输出端与所述中间继电器的信号输入端连接；