[实用新型]全行程式射频测试头

说明书

本实用新型提供了一种全行程式射频测试头，涉及射频测试领域，包括外壳、第一绝缘体、第二绝缘体、针管、第一弹簧、针轴、第三绝缘体、第二弹簧以及接触头；第一绝缘体和第二绝缘体固定在外壳内；针管包括安插部和容置部，安插部安插在第一绝缘体内，容置部安插在第二绝缘体内；针轴的一端位于容置部内，另一端从容置部内探出；第一弹簧安装在针轴与容置部之间；接触头固定在外壳的一端，第三绝缘体位于接触头内，针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内。本实用新型将一体结构的绝缘体分成三个相互独立的部分，对于绝缘体不同直径的部分可以采取分段加工的方式，成品率增高，也降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及受射频测试领域，尤其是涉及一种全行程式射频测试头。

背景技术

随着射频测试行业的发展，射频测试头要求在越来越局促的空间内容纳越来越小的互连，测试要求也越来越高，改善测试射频头的测试运行过程的运动传导部分方式已成必然趋势。

但是，在现有技术中的射频测试头使用过程中，采用非全行程的驻波比等各项指标的一致性和稳定性达不到理论要求。原因在于，上述产品存在着如下的问题和缺陷：

1.现有技术中的射频测试头因体积小，为了保证接触头的轴向往复运动，非全行程结构是将接触头内腔绝缘体和针管部分的绝缘体做成了一体式结构，在实际使用过程中，接触头部部分的阻抗匹配混乱，驻波等参数会随着轴向运动而变化，影响使用效果；而且，由于存在粗端和细长端，一体结构的绝缘体加工难度大，废品率高；

2.现有技术中的射频测试头，大弹簧在轴向往复运动过程中会发生弯曲现象，造成大弹簧无法发挥设计性能；

3.现有技术中的射频测试头，针轴、绝缘体过于细长且尺寸过渡较大，加工难度增大，不但使生产过程中的报废率增高，成本增加，也间接导致了存储难度加大、生产过程中损耗率增高，综合成本得不到有效的控制。

综上所述，非全行程的运动传导方式，不仅对产品各零部件有较高的加工要求，也对产品生产、检验、存储等环节提出了更高的要求，导致产品的生产难度大，成本高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种全行程式射频测试头，采用分离式绝缘体设计，能够降低生产难度，提高产品的合格率。

为解决上述问题，本实用新型提供的一种全行程式射频测试头，包括外壳、第一绝缘体、第二绝缘体、针管、第一弹簧、针轴、第三绝缘体、第二弹簧以及接触头；所述第一绝缘体和第二绝缘体固定在外壳内；所述针管包括安插部和容置部，所述安插部安插在第一绝缘体内，所述容置部安插在所述第二绝缘体内；所述针轴的一端位于容置部内，另一端从容置部内探出；所述第一弹簧安装在针轴与容置部之间；所述接触头固定在外壳的一端，所述第三绝缘体位于接触头内，所述针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内。

在上述技术方案中，进一步的，所述针轴包括滑动部、粗径部以及细径部；所述滑动部位于针管的容置部内，所述粗径部穿过第二绝缘体，所述细径部位于第三绝缘体内。

在上述技术方案中，进一步的，还包括衬套，所述衬套安装在外壳内，位于第二绝缘体和接触头之间，所述第二弹簧的一端抵在衬套上。

在上述技术方案中，进一步的，所述外壳包括法兰和主壳体，所述法兰和主壳体通过螺纹连接。

在上述技术方案中，进一步的，所述接触头包括一体成型的弹簧安插段、粗径段和头段，所述粗径段固定在外壳的一端，所述弹簧安插段用于固定第二弹簧，所述头段从外壳内探出。

相较于现有技术，本实用新型提供的全行程式射频测试头，将现有技术中一体结构的绝缘体分成三个相互独立的部分，针管的安插部安插在第一绝缘体内，针管的容置部安插在所述第二绝缘体内，针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内；对于绝缘体不同直径的部分可以采取分段加工的方式，成品率增高，也降低了生产成本。