[实用新型]阵列基板、显示面板和显示装置

说明书

本实用新型实施例公开了一种阵列基板、显示面板和显示装置，该阵列基板包括：形成在衬底基板显示区内的多个数据线组和形成在衬底基板非显示区上的测试电路；数据线组包括多条数据线；同一数据线组中，各数据线沿第一方向延伸、沿第二方向排列；测试电路包括第一测试线、第二测试线以及多个沿第二方向依次排列的测试单元；测试单元与数据线组一一对应设置；测试单元中信号输出端与与其对应的数据线组中的数据线一一对应连接；至少一个数据线组中，间隔设置的至少两条数据线电连接的测试开关的信号输入端通过同一条信号走线电连接至同一测试线。本实用新型提供的技术方案可减少走线数量，且保证画面显示效果，还可检测出相邻两根数据线的短路情况。

技术领域

本实用新型实施例涉及显示面板的布线技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板和显示装置。

背景技术

随着手机、电脑、电视等智能终端行业的快速发展，对显示面板的图像显示效果以及显示面板的质量等各方面的要求越来越高。于此，通常需要对显示面板进行功能测试，以确保显示面板的质量可靠性。现有对显示面板进行测试的测试方法中，LCD Quicker方法由于其可重复检测和测试效率高的优点被广泛应用。

示例性的，图1是现有技术的一种LCD Quicker方法的阵列基板布线设计电路图，图2是图1中电路的布线设计布局(layout)图。参照图1和图2，该阵列基板00包括显示区002和非显示区001，显示区002内包括多条数据线Data，非显示区001内包括第一测试线SO、第二测试线SE、信号走线ZW和测试开关SW。其中，第一测试线SO为与阵列基板00上数据线Data中的第奇数条相连的测试线，第二测试线SE为与阵列基板00上数据线Data中的第偶数条相连的测试线；测试开关SW包括控制端，信号输入端和信号输出端；测试开关SW的控制端与控制信号线AVDD电连接，信号输入端通过信号走线ZW与第一测试线SO或第二测试线SE电连接，信号输出端与数据线Data一一对应电连接。示例性的，第一数据线Data(1)、第三数据线Data(3)、第五数据线Data(5)分别通过第一测试开关T1、第三测试开关T3、第五测试开关T5与第一测试线SO电连接，第二数据线Data(2)、第四数据线Data(4)第六数据线Data(6)分别通过第二测试开关T2、第四测试开关T4、第六测试开关T6与第二测试线SE电连接。

上述电路结构为现有技术中的一对一LCD Quicker方法电路结构，该电路结构中，走线较多，导致线宽较细，走线间隔较小，存在断线风险，不能快速有效地对显示面板进行测试。为了减少走线数量，保证测试电路的工作可靠性，将上述电路结构进行改进，形成一对二LCD Quicker方法电路结构。

示例性的，图3是现有技术的另一种LCD Quicker方法的阵列基板布线设计电路图，图4是图3中电路的布线设计布局(layout)图。参照图3和图4，将与相邻的两条数据线Data(包括第奇数条数据线DO和第偶数条数据线DE)电连接的测试开关电连接至同一条信号走线ZW。示例性的，与相邻的第奇数条数据线DO电连接的第奇数个测试开关TO、第偶数条数据线DE电连接的第偶数个测试开关TE通过同一条信号走线ZW电连接至测试线S01或测试线S02。如此设置，可将信号走线ZW的数量减半，但是该电路结构采用相邻的两条数据线Data同时输入测试信号的方式进行检测，因而存在以下缺点：一是像素尺寸较大时，相邻的两列像素同时显示，导致显示画面中存在条纹，影响显示效果；二是无法检测出相邻两根数据线的短路情况。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种阵列基板、显示面板和显示装置，以减少走线数量，同时，可以保证画面显示效果，还可以检测出相邻两根数据线的短路情况。

本实用新型实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板包括：衬底基板，所述衬底基板包括显示区和非显示区，其特征在于，还包括：