[实用新型]一种光源检测校正系统有效

专利信息
申请号: 201821389455.7 申请日: 2018-08-27
公开(公告)号: CN208705006U 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 王立伟;代云启;许穆岚;李东东;姚维 申请(专利权)人: 科大国盾量子技术股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 230088 安徽省合肥市高*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
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【说明书】:

实用新型提供了一种光源检测校正系统,包括耦合器、滤波器、探测器和控制器;耦合器将光源出射的部分光线传输至滤波器,滤波器对部分光线进行滤波,并将部分光线传输至探测器,探测器对部分光线的光强进行探测后,将探测到的光强值传输至控制器,控制器根据探测到的光强值判断光源是否出现漂移,并在判定光源出现漂移后,对光源进行校正。采用本实用新型提供的光源检测校正系统,可以及时地发现光源的漂移情况,及时地对漂移情况进行校正,且能够极大地降低光源漂移校正的周期和繁琐度。

技术领域

本实用新型涉及光通信及量子通信技术领域,更具体地说,涉及一种光源检测校正系统。

背景技术

激光器注入锁定技术大多应用于光通信和量子通信技术领域,主要用于提高半导体激光器的调制带宽以及强注入锁定时激光器表现的双稳态、四波混频等非线性效应。

在量子通信技术领域,由于QKD(Quantum Key Distribution,量子密钥分配)系统中多台激光器存在波长不一致性的问题以及单台激光器存在光脉冲质量不佳的问题,因此,会导致QKD系统出现安全漏洞以及性能较差的问题,而采用注入锁定技术可以很好地克服这一问题。

但是,在实际应用中,激光器经常会受温度等因素的影响而出现漂移的情况,影响注入锁定的效果和质量,现有技术中大多是采用光谱仪等仪器对激光器进行重新调试校正,但是,这种调试校正方法不能及时地发现激光器的漂移,也不能及时地对激光器的漂移进行校正,不利于激光器的应用。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供了一种光源检测校正系统,以及时地发现激光器等光源的漂移,并及时地对漂移情况进行校正。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

一种光源检测校正系统,包括耦合器、滤波器、探测器和控制器;

所述耦合器与所述滤波器连接,用于将光源出射的部分光线传输至所述滤波器,以实现所述光源的在线检测;

所述滤波器与所述探测器连接,用于对所述部分光线进行滤波,并将所述部分光线传输至所述探测器;所述滤波器的带宽与所述光源的光谱线宽相匹配;

所述探测器与所述控制器连接,用于对所述部分光线的光强进行探测,并将探测到的光强值传输至所述控制器;

所述控制器用于根据所述探测到的光强值判断所述光源是否出现漂移,并在判定所述光源出现漂移后,对所述光源进行校正。

可选地,所述控制器根据所述探测到的光强值判断所述光源是否出现漂移包括判断所述光强值是否在预设的阈值范围内,若是,则所述光源未出现漂移,若否,则所述光源出现漂移;

所述控制器对所述光源进行校正包括对所述光源进行温度微调,或者,对所述光源进行延时微调和温度微调。

可选地,所述光源为注入锁定光源,所述注入锁定光源包括主激光器、从激光器和环形器;

所述环形器的第一端与所述主激光器连接,所述环形器的第二端与所述从激光器连接,所述环形器的第三端与所述耦合器连接;

所述环形器用于将所述主激光器出射的激光传输至所述从激光器中,以对所述从激光器的出射激光进行注入锁定;

所述环形器还用于将所述从激光器出射的激光传输至所述耦合器,以使所述耦合器将所述从激光器出射的激光中的部分光线传输至所述滤波器。

可选地,所述探测器为单光子探测器;所述控制器为FPGA芯片、MCU或微型CPU。

可选地,还包括功率检测电路;

所述探测器探测到的光强值经过所述功率检测电路检测后传输至所述控制器。

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