[实用新型]一种手机天线RF测试装置

说明书

本实用新型公开了一种手机天线RF测试装置，其包括有上盖、升降机构和下模，下模上开设有用于放置天线的凹位，上盖的底部设有多个向下延伸的馈电探针、接地探针和辐射探针，辐射探针电性连接于网络分析仪，馈电探针与天线的馈电部对齐，接地探针与天线的接地部对齐，升降机构用于驱使下模和天线上升，以令馈电探针与天线的馈电部相抵接，接地探针与天线的接地部相抵接，辐射探针与天线相靠近，且由辐射探针向天线辐射电磁信号，藉由馈电探针和接地探针反馈的电信号测试天线的RF性能。本实用新型能提高测试结果稳定性、可靠性，并且无需PCB板支撑，可有效降低测试成本，可提高产能。

技术领域

本实用新型涉及天线测试装置，尤其涉及一种手机天线RF测试装置。

背景技术

手机天线在生产过程中，传统的手机天线RF测试是在PCB板上焊接同轴线，将同轴线的线芯焊接到PCB上的焊盘上，同轴线的参考地焊接到PCB的参考地，网络分析仪的射频连接线连接到同轴线的一端进行RF测试，这种直接馈电方式很常见，也有如下一些弊端：首先，对治具的上下模要求很高，产品放在治具上要保证不动，探针接触天线的位置要保证不变；其次，治具盖板、外壳一般是木制的，因人体对天线的影响很大，导致测试的结果不稳定。由此可见，现有技术中缺少一种能提高测试结果稳定性、可靠性的RF测试装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种能提高测试结果稳定性、可靠性，并且无需PCB板支撑，可有效降低测试成本、可提高产能的手机天线RF测试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案。

一种手机天线RF测试装置，其包括有上盖、升降机构和下模，所述下模设于升降机构上，所述上盖设于下模的上方且二者之间存在预设距离，所述下模上开设有用于放置天线的凹位，所述上盖的底部设有多个向下延伸的馈电探针、接地探针和辐射探针，所述辐射探针电性连接于网络分析仪，所述馈电探针与天线的馈电部对齐，所述接地探针与天线的接地部对齐，所述升降机构用于驱使下模和天线上升，以令所述馈电探针与天线的馈电部相抵接，所述接地探针与天线的接地部相抵接，所述辐射探针与天线相靠近，且由所述辐射探针向天线辐射电磁信号，藉由所述馈电探针和接地探针反馈的电信号测试天线的RF性能。

优选地，所述上盖上设有探针固定块，所述馈电探针和接地探针均安装于所述探针固定块上。

优选地，所述探针固定块可拆卸连接于所述上盖。

优选地，所述上盖的顶部固定有多个射频转接头，所述上盖的底部设有多个辐射探针，所述射频转接头与所述辐射探针一一对应连接，所述网络分析仪与多个射频转接头之一电性连接。

优选地，所述射频转接头和辐射探针的数量均为12个。

优选地，多个辐射探针分布于下模的周围。

优选地，所述上盖为金属上盖。

优选地，所述上盖的底部设有用于抵紧天线的塑胶压块。

本实用新型公开的手机天线RF测试装置，在测试过程中，利用所述升降机构的驱动作用带动下模和天线上升，并要求辐射探针不接触天线的馈点，仅在天线周围的近距离处馈电，利用所述馈电探针和接地探针接触到天线的馈电部和馈地部，并将所述辐射探针电性连接于网络分析仪，通过辐射探针耦合能量到天线的走线部分，并由网络分析仪显示测试结果。相比现有技术而言，上述测试装置可以测试产品的RF性能，并且能检测出不良，有很大实用价值，同时，由于下模上的凹位对天线具有较好的定位作用，进而提高了测试结果稳定性、可靠性，以及提高了产能，此外，测试过程中无需PCB板支撑天线，有效降低了测试成本，较好地满足了应用需求。

附图说明

图1为本实用新型手机天线RF测试装置的立体图。

图2为上盖的俯视图。