[实用新型]一种多功能暗室荧光光谱测试仪装置

说明书

多功能暗室荧光光谱测试仪装置，包括光学暗室、Xe激发光源，滤光光栅、三维位移台和望远镜系统，Xe激发光源，滤光光栅、三维位移台和望远镜系统光学暗室内，Xe激发光源经滤光光栅，由滤光光栅出射的反射光路或经由光纤照射到三维位移台上荧光材料；三维位移台侧上方设有角度可调和焦距可调的望远镜系统。本实用新型通过巧妙地设计将多种功能集成在一起并置于光学暗室中，以满足大多数荧光光谱测试需求，各种参数可以根据需要进行调整，提高了实验效率与精度。

技术领域：

本实用新型荧光光谱测试装置，尤其是一种暗室多功能荧光光谱测试装置。

背景技术：

现有的荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。包括光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成。荧光光谱仪可分为X射线荧光光谱仪和分子荧光光谱仪。

分子荧光光谱仪具体包括1.荧光激发光谱和荧光发射光谱，2.同步荧光(波长和能量)扫描光谱，3.3D(Ex Em Intensity)，4.Time Base和CWA(固定波长单点测量)，5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨，6.计算机采集光谱数据和处理数据(Datamax和Gram32)。

然而，现有的分子荧光光谱仪为了满足检测条件和获得适当的灵敏度，成本比较高，在应用上受到限制。

实用新型内容

本实用新型的目的是，提供一种多功能暗室荧光光谱测试仪装置，利用光谱仪从宽光谱光源中得到单色光，激发荧光材料，利用望远镜系统搜集激发光，分析光谱特性。并设计真空室的使用条件。

本实用新型的技术方案：多功能暗室荧光光谱测试仪装置，包括光学暗室、Xe激发光源，滤光光栅、三维位移台和望远镜系统，Xe激发光源，滤光光栅、三维位移台和望远镜系统光学暗室内，Xe激发光源经滤光光栅，由滤光光栅出射的反射光路或经由光纤照射到三维位移台上荧光材料；三维位移台侧上方设有角度可调和焦距可调的望远镜系统。系统光入射口也可连接激光器以满足实验需要。

光学暗室设有接激光器的光入射口。

通过激光测距设备与三维位移台的协同，精确确定物镜与测试材料的距离。

利用角度可调和焦距可调的望远镜系统搜集荧光。

将以上功能通过工业设计集成在一个设备上，并置于暗室中。

有益效果：本实用新型利用光谱仪从宽光谱光源中得到所需单色光，利用光纤或反射光路将单色光聚焦在材料表面。也可根据实验需要将光谱仪换为激光器。测试材料放置于三维平移台上。物镜与测试平台的距离可由激光测距系统精确测定，望远镜系统搜集光的角度可以在30-60度之间调整，以搜集最强信号。本实用新型系统所有光路都置于光学暗室中，避免杂散光对系统的影响，而且容易将暗室改进成真空暗室，应用上效果更好，且能适应各种材料的测量。本实用新型结构简单，通过巧妙地设计将多种功能集成在一起并置于光学暗室中，以满足大多数荧光光谱测试需求，各种参数可以根据需要进行调整，提高了实验效率与精度。将多种功能集成于一体。提高使用效率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，多功能暗室荧光光谱测试仪装置，包括光学暗室1、Xe激发光源2(氙灯光源HSX-uv300)，滤光光栅3(三光栅单色仪)、获得高质量的单色光，根据需要将光通过反射光路或光纤照射到荧光材料4中。系统光入射口也可连接激光器以满足实验需要。荧光材料4置于三维位移台5上面，三维位移台5上方，设有望远镜系统6，利用角度可调和焦距可调的望远镜系统搜集荧光。