[实用新型]一种高压标准电容器和高压电气设备介质损耗测量装置有效

专利信息
申请号: 201821402658.5 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN208953591U 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 程战斌 申请(专利权)人: 中国大唐集团科学技术研究院有限公司西北分公司
主分类号: G01R1/28 分类号: G01R1/28;G01R27/26
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 代理人: 惠文轩
地址: 710021 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 密封绝缘 高压标准电容器 电容电极 均压环 接线端子 高压电气设备 介质损耗测量 本实用新型 高压屏蔽 屏蔽电极 伸出 标准电容器 绝缘支座 内部设置 倒立 屏蔽 正立 测量 携带 应用
【说明书】:

实用新型公开了一种可高压屏蔽的高压标准电容器,包括圆柱形的密封绝缘筒,所述密封绝缘筒的内部设置有第一电容电极、第二电容电极和屏蔽电极;以及伸出所述密封绝缘筒一端的第一电容电极接线端子,伸出所述密封绝缘筒另一端的第二电容电极接线端子和屏蔽电极接线端子;所述密封绝缘筒的两端分别设置有第一均压环和第二均压环,所述第一均压环和第二均压环分别作为高压标准电容器的正立基座和倒立基座。本实用新型的可高压屏蔽的高压标准电容器用于高压电气设备介质损耗测量时,不仅消除了屏蔽电流的影响,提高了测量准确性,同时避免了由于绝缘支座对标准电容器自身体积的影响,便于现场携带应用。

技术领域

本实用新型涉及高压电气设备介质损耗测量技术领域,尤其涉及一种可高压屏蔽的高压标准电容器和高压电气设备介质损耗测量装置。

背景技术

电气设备介质损耗测量时,通过介损测量单元测量施加于试品的交流电压、电流的幅值和相位进行计算,得出试品的介质损耗和电容。对试品的电压测量主要通过测量与试品并联标准电容的电流来换算。对试品的电流测量,根据试品的接地方式主要分为两种方式:一种是对地有绝缘的试品,在其低压端进行电流测量,称之为正接线测量;一种是对地无绝缘的试品,在其高压端进行电流测量,称之为反接线测量。

反接线测量时,也有两种方法。一种是光纤电流传感器测量方式,即将介损测量单元放在低压侧,标准电容电流取自标准电容测量端,标准电容的屏蔽端接地(标准电容的屏蔽端和测量端之间电位接近,两者之间为弱绝缘),光纤电流传感器将在试品高压侧测量出的试品电流,通过光纤传给介损测量单元。测量过程中,由于光纤电流传感器固有的电-光-电转换误差,产生了测量结果上的误差。另一种测量方法是高压无线测量方式,即将介损测量单元放在试品高压侧,试品电流直接由介损测量单元在试品高压侧进行测量,介损测量单元将所测量计算得到的介损和电容值通过无线方式发送给试验人员,避免了光纤电流传感器的转换误差。但是在这种测量方式下,介损测量单元就无法直接从处于低压端的标准电容测量端获取标准电容电流。由于标准电容的高压侧电流包含了标准电容的屏蔽极电流,如果从标准电容高压侧取电流,则无法消除屏蔽极干扰信号对测量结果的影响。

为了解决这一问题,目前主要采用的方法是设置与标准电容相同绝缘等级的绝缘支座,测量时将标准电容低压侧放置在绝缘支座上,标准电容高压侧接地,标准电容的屏蔽端和测量端分别引入介损测量单元,从而消除屏蔽电流的影响。这种方式下由于绝缘支座的存在,标准电容的体积成倍增加,不利于现场携带与应用。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题,本实用新型的目的在于提供一种可高压屏蔽的高压标准电容器,其可以在高压电气设备介质损耗测量时消除屏蔽电流的影响,还可以解决现有的绝缘支座体积大、不方便携带的问题。

为了达到上述目的,本实用新型采用以下技术方案予以实现。

技术方案一:

一种可高压屏蔽的高压标准电容器,包括圆柱形的密封绝缘筒,所述密封绝缘筒的内部设置有第一电容电极、第二电容电极和屏蔽电极;以及伸出所述密封绝缘筒一端的第一电容电极接线端子,伸出所述密封绝缘筒另一端的第二电容电极接线端子和屏蔽电极接线端子;所述密封绝缘筒的两端分别设置有第一均压环和第二均压环,所述第一均压环和第二均压环分别作为高压标准电容器的正立基座和倒立基座。

本实用新型的特点和进一步改进在于:

优选的,所述第一均压环和第二均压环的材质分别为不锈钢。

优选的,所述第一均压环和第二均压环的形状相同。

优选的,所述第一均压环和第二均压环分别为实心均压环。

技术方案二:

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