[实用新型]一种IGBT模块内部的半桥DBC测试夹具

说明书

本实用新型涉及一种IGBT模块内部的半桥DBC测试夹具，包括平台、底座、定位块、后侧壁、支架、导轨、导杆、升降机构、升降台、支撑杆、探针座、探针导轨和探针，所述平台上端设有所述底座，所述底座上端设有所述定位块，所述后侧壁垂直设置在所述平台上端，所述后侧壁上端设有所述支架，所述支架下端设有所述导轨，所述导轨包裹于所述导杆外侧，所述导杆上端设有所述升降机构，所述导杆下端设有所述升降台，所述支撑杆上端连接所述升降台，所述支撑杆下端连接所述探针座，所述探针座上设有所述探针导轨，所述探针设置在所述探针导轨内部。结构简单，操作便利，安全高效，大大提高IGBT模块良率，并减少不必要的成本。

技术领域

本实用新型涉及一种IGBT模块内部的半桥DBC测试夹具，属于测试夹具领域。

背景技术

IGBT(绝缘栅双极型晶体管)的驱动功率小而饱和压降低，非常适合应用于直流电压为600V及以上的变流系统如交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等，现已广泛应用在新能源、交通运输等各个领域，目前市场对IGBT模块的需求量日益增加，但国内IGBT模块封装良率只有93％，其中不良DBC的存在会大大增加IGBT模块的不良率。

目前，IGBT模块封装厂只在封装成成品后进行一次静态测试，如果IGBT 模块内部的半桥DBC是有问题的，则会导致IGBT模块成品的静态测试不合格，而IGBT模块已经组装完成，在此已经付出了组装成本。如果能在封装过程中对键合后的半桥DBC进行提前测试，去除不良的半桥DBC，就会大大提高模块良率，并减少不必要的成本。如果手动测试则需耗费大量人工成本，而且工作效率低下。

实用新型CN205015367U公开了一种大电流IGBT芯片的测试夹具，具体内容为DBC测试板插装在连接底板内，测试探针穿过PCB探针孔、盖板探针孔与DBC测试板对应连接，测试探针与测试设备连接，采集测试结果，该实用新型可以解决人工成本问题，但是DBC测试板需要通过拔插的方式放置，取放比较麻烦，而且探针需要穿过多个孔道后与DBC测试板对应连接，存在探针与DBC测试板接触不良的风险，从而降低测试准确度，导致测试结果的误判。因此，设计出安全高效、结构简单、测试精准的半桥DBC测试夹具十分必要。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术存在的不足，提供一种IGBT模块内部的半桥 DBC测试夹具，能够实现对半桥DBC的提前测试，避免性能好的半桥DBC和不良的半桥DBC组成IGBT模块，造IGBT模块成品不良，耗费大量成本；而且定位准确，测试精准；另外，结构简单，操作便利，安全高效，大大提高 IGBT模块良率，并减少不必要的成本。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：一种IGBT模块内部的半桥DBC测试夹具，所述测试夹具包括平台、底座、定位块、后侧壁、支架、导轨、导杆、升降机构、升降台、支撑杆、探针座、探针导轨和探针；

所述平台上端设有所述底座，所述底座上方用于放置待测的半桥DBC；

所述底座上端设有所述定位块，所述后侧壁垂直设置在所述平台上端，所述后侧壁上端设有所述支架，所述支架下端设有所述导轨，所述导轨包裹于所述导杆外侧，所述导杆与所述导轨相互滑动配合；

所述导杆上端设有所述升降机构，所述导杆下端设有所述升降台，所述支撑杆上端连接所述升降台，所述支撑杆下端连接所述探针座，所述探针座上设有所述探针导轨，所述探针设置在所述探针导轨内部。

如上所述的一种IGBT模块内部的半桥DBC测试夹具，所述定位块包括后定位块和侧定位块，所述后定位块和侧定位块互相垂直，用于确定半桥DBC 的位置，方便取放，节约了时间成本，另外所述后定位块可以在底座上前后移动，侧定位块可以在底座上左右移动，通过所述后定位块和所述侧定位块的位置移动，确定出待测半桥DBC的最佳摆放位置，便于测定的准确性，因为半桥DBC上的G极区域面积小，如果待测半桥DBC摆放位置不合适，会导致探针定位不准确从而影响测试结果。