[实用新型]探头组件及谐振器检测装置

说明书

本实用新型提供了一种探头组件和谐振器检测装置，探头组件包括：基座和探针组件；基座上设置有探针孔；探针组件包括第一探针和多个第二探针，第一探针插接于探针孔中；多个第二探针分别与第一探针的端部相连接；其中，第一探针的直径大于多个第二探针中任一个的直径。通过将多个第二探针分别与第一探针的端部相连接，且第一探针的直经大于多个第二探针中任一个的直径，可提高探针组件的强度，从而提高探头组件的质量，延长探头组件的使用年限，降低探头组件的使用成本。

技术领域

本实用新型涉及谐振器检测装置技术领域，具体而言，涉及一种探头组件及谐振器检测装置。

背景技术

目前，在相关技术中，当探针的直径过粗时，探针与产品的接触面积过大，容易造成探针与产品之间粘有灰尘，从而使产品的检测结构产生误差，降低了产品测试的准确性；当探针的直径过细时，致使探针容易被折断，从而降低探针的使用年限，提高了探头组件的使用成本。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本实用新型的第一方面提出一种探头组件。

本实用新型的第二方面提出一种谐振器检测装置。

有鉴于此，本实用新型第一方面提供了一种探头组件，包括：基座和探针组件；基座上设置有探针孔；探针组件包括第一探针和多个第二探针，第一探针插接于探针孔中；多个第二探针分别与第一探针的端部相连接；其中，第一探针的直径大于多个第二探针中任一个的直径。

在该技术方案中，首先，在基座上设置有探针孔；其次，通过将探针组件所包含的第一探针插接在探针孔中，以实现将第一探针固定在基座上，从而提高第一探针的稳定性；再次，通过将多个第二探针分别与第一探针的端部相连接，以实现多个第二探针与产品相接触；由于第一探针的直经大于多个第二探针中任一个的直径，因此在通过多个第二探针与产品接触时，可实现减少探头组件与产品接触面积，从而解决第一探针与产品之间粘有灰尘，而造成误测的问题，将基座精确定位，进而提高产品测试的准确性，而且通过多个第二探针与产品相接触，可减少单个第二探针与产品接触面积，还可以提高探头组件与产品接触的稳定性，进一步将基座精确定位，提高产品测试的准确性；同时，通过将多个第二探针分别与第一探针的端部相连接，且第一探针的直经大于多个第二探针中任一个的直径，可提高探针组件的强度，从而提高探头组件的质量，延长探头组件的使用年限，降低探头组件的使用成本。

另外，本实用新型提供的上述技术方案中的探头组件还可以具有如下附加技术特征：

在上述技术方案中，优选地，该探头组件还包括：电路板和接头；电路板与基座相贴合；接头插接于电路板上，与第一探针电连接。

在该技术方案中，通过将电路板与基座相贴合，以提高电路板的稳定性；通过将接头插接在电路板上，并将接头与第一探针电连接，以实现将第二探针所检测的信息通过接头传递出去，并可对第二探针所检测的信息加以分析，从而反映出产品的特性参数。

在上述任一技术方案中，优选地，第一探针的直径大于等于0.8mm，并且小于等于2.0mm。

在该技术方案中，当第一探针的直径小于0.8mm时，因第一探针的直径过细而容易造成第一探针折断；当第一探针的直径大于2.0mm时，因第一探针的直径过粗而提高了第一探针的生产成本；因此通过设置第一探针的直径大于等于0.8mm，并使第一探针的直径小于等于2.0mm，不仅可提高第一探针的强度，避免第一探针发生折断，从而延长第一探针的使用年限，还可降低第一探针的生产成本，从而降低探头组件的生产成本。

在上述任一技术方案中，优选地，多个第二探针中任一个的直径大于等于0.2mm，并且小于等于0.4mm。