[实用新型]一种多绕组总匝数测试装置有效

专利信息
申请号: 201821430370.9 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN208818768U 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 古大成;李金榜;单英 申请(专利权)人: 天津光电万泰克电子有限公司
主分类号: G01R29/20 分类号: G01R29/20
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 胡京生
地址: 300211*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 飞线 被测器件 探针 底板 针脚 测试夹 多绕组 总匝数 测试装置 导线连接 串接 盲孔 尾端 本实用新型 针状 测试效率 技术效果 绕组测试 顺序连接 底端面 上端面 上端 胶固 绝缘 列距 通孔 尾头 行距 匝数 垂直 穿过 保证
【说明书】:

本实用新型涉及一种多绕组总匝数测试装置,被测多绕组包括数个飞线绕组和数个普通绕组,其中飞线绕组首、尾端引出是导飞线,普通绕组首、尾端引出是针脚,所述的底板有与被测器件针脚的行距、列距相同排列的通孔、一端上端面安装有测试夹,探针垂直插入对应孔内,探针用绝缘胶固定于底板的底端面,穿过底板的探针的尾部用导线按被测器件普通绕组串接顺序连接在一起,测试夹按被测器件飞线绕组串接顺序用导线连接在一起,且测试夹的导飞线首头与普通绕组的尾头用导线连接在一起,探针为针状且上端有盲孔,被测器件针脚插于盲孔中并接触在一起。技术效果是,实现所有绕组测试总匝数的需求,提高了测试效率,保证了匝数的准确性。

技术领域

本实用新型涉及一种匝数测试装置,特别涉及一种多绕组总匝数测试装置。

背景技术

本公司生产的器件需要100%进行匝数测试,且对匝数要求100%正确,传统采用分组测试方式,不能保证极性100%正确,同时操作过程中容易出现疏漏,为提高测试效率,降低测试方法对人的依赖性,设计该匝数测试装置,实现快速完成所有绕组串联测试匝数的需求。

发明内容

鉴于现有技术存在的问题,本实用新型提供一种多绕组总匝数测试装置,实现了多绕组测试匝数的需求,具体技术方案是,一种多绕组总匝数测试装置,包括测试夹、探针、底板和导线,被测多绕组包括数个飞线绕组和数个普通绕组,其中飞线绕组首、尾端引出是导飞线,普通绕组首、尾端引出是针脚,其特征在于:所述的底板有与被测器件针脚的行距、列距相同排列的通孔、一端上端面安装有测试夹,探针垂直插入对应孔内,探针用绝缘胶固定于底板的底端面,穿过底板的探针的尾部用导线按被测器件普通绕组串接顺序连接在一起,测试夹按被测器件飞线绕组串接顺序用导线连接在一起,且测试夹的导飞线首头与普通绕组的尾头用导线连接在一起,所述的探针为针状且上端有盲孔,被测器件针脚插于盲孔中并接触在一起。

本实用新型的技术效果是,实现所有绕组测试总匝数的需求,提高了测试效率,保证了匝数的准确性。

附图说明

图1是本实用新型结构立体图;

图2是本实用新型结构正视图;

图3是本实用新型导线连接图;

图4是被测件多绕组结构视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例进一步说明。

实施例

如图1、图2、图3、图4所示,以对三个飞线绕组7和四个普通绕组8的器件进行匝数测试为例,其中,线圈圈数测试仪6选用上海沪光电子控制设备厂YG-108,测试夹1选用星宝电子有限公司WP4-10。探针2的材质是紫铜。

一种多绕组总匝数测试装置,包括测试夹1、探针2、底板3、导线5和线圈圈数测试仪6,被测件多绕组包括数个飞线绕组7和数个普通绕组8,其中飞线绕组7引出端是导飞线7-1,普通绕组8引出端是针脚8-1,所述的底板3有与被测器件普通绕组8针脚8-1的行距、列距相同排列的通孔1-1、一端上端面安装有测试夹1,探针2垂直插入通孔1-1内,探针2用绝缘胶固定于底板3的底端面,穿过底板3的探针2的尾部用导线5按被测器件普通绕组7串接顺序连接,飞线绕组7引出的导飞线7-1连接在一起,测试夹1按飞线绕组7串接顺序用导线5连接在一起,且测试夹1的导飞线7-1首头与普通绕组8的尾头用导线5连接在一起,所述的探针2为针状且上端有盲孔,被测器件针脚插于盲孔中并接触在一起。

匝数测试装置使用方法:

一、被测多绕组的飞线绕组7的导飞线7-1分别连接在测试夹1相应位置、且尾头连接线圈圈数测试仪6一输入端;被测多绕组的普通绕组8首头用导线5连接线圈圈数测试仪6另一输入端;

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