[实用新型]一种二极管探针测试夹

说明书

本实用新型公开了一种二极管探针测试夹，包括第一塑料外壳和第二塑料外壳，所述的第一塑料外壳顶部表面且接近其背面的位置固定连接有第一转动连接片，所述的第一塑料外壳顶部表面且接近其正面的位置固定连接有第二转动连接片，所述的第一转动连接片和第二转动连接片重叠部位表面的中间位置均贯穿开设有转动孔，本实用新型涉及二极管测试设备技术领域。该一种二极管探针测试夹，达到了有利于降低生产成本的目的，测试时形成四线开尔文接线方案，解决了大电流测试时的阻抗接触测试精度问题，且彻底避免了编带材料的浪费，以及返工工时浪费问题，降低了返编机台的损耗，节约了编带返工费用，同时缩短了订单交期。

技术领域

本实用新型涉及二极管测试设备技术领域，具体为一种二极管探针测试夹。

背景技术

目前半导体分立器件的发展趋势越来越微型化，伴随着市场竞争的越发激烈，半导体芯片封测厂对于品质控制变得更加严格，半导体分立器件除在制程中的最后一道TMTT测试工序对有缺陷半导体器件进行挑选外，为了排除掉TMTT测试工序到出厂时这段流程中可能存在的对器件的损伤及缺陷品逃逸风险，在OQC出厂检时增加了电性能抽测的动作作为应对，进一步提高半导体成品器件的出厂质量，消除半导体器件的早期失效率。现有的针对已编带的成品抽检，因产品密封在缝合的编带内，因此品质人员需要将已编的编带拆掉进行产品测试，对编带材料产生了大量的浪费的同时，亦造成了人工工时的浪费，以及重新上机返编的机台损耗。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种二极管探针测试夹，解决了现有的针对已编带的成品抽检，因产品密封在缝合的编带内，因此品质人员需要将已编的编带拆掉进行产品测试，对编带材料产生了大量的浪费的同时，亦造成了人工工时的浪费，以及重新上机返编的机台损耗的问题。

(二)技术方案

实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种二极管探针测试夹，包括第一塑料外壳和第二塑料外壳，所述的第一塑料外壳顶部表面且接近其背面的位置固定连接有第一转动连接片，所述的第一塑料外壳顶部表面且接近其正面的位置固定连接有第二转动连接片，所述的第一转动连接片和第二转动连接片重叠部位表面的中间位置均贯穿开设有转动孔，所述的第一塑料外壳和第二塑料外壳顶部表面设置有固定夹套，所述的固定夹套正面与背面的中间位置均贯穿开设有旋转固定孔，所述的旋转固定孔表面螺纹连接有固定螺母，所述的固定螺母远离固定夹套正面的一端通过旋转固定孔贯穿固定夹套背面且延伸至其外部，所述的第一塑料外壳和第二塑料外壳的内腔的中间位置从左至右依次纵向贯穿开设有第二导线通孔和第一导线通孔，所述的第二导线通孔和第一导线通孔内分别卡设有第二导线和第一导线，所述的第一导线和第二导线的底端均贯穿第一塑料外壳和第二塑料外壳的底部且延伸至其外部，且所述的第一导线和第二导线底端连接有探针，所述的第一导线和第二导线远离探针的一端贯穿固定夹套的顶部且延伸至其外部，所述的第一导线和第二导线外表面且位于固定夹套的位置均套设有固定防护套，所述的固定防护套底部与固定夹套之间固定连接。

优选的，所述的第一导线和第二导线均由铜轴线制成。

优选的，所述的旋转固定孔表面均开设有螺纹，所述的旋转固定孔和转动孔二者相对齐。

优选的，所述的第一塑料外壳和第二塑料外壳并排放置，所述的转动孔表面与固定螺母的螺杆之间转动连接。

优选的，所述的第一转动连接片和第二转动连接片分别与第一塑料外壳和第二塑料外壳之间通过一体式注塑成型。

优选的，所述的第一转动连接片和第二转动连接片规格相同，且所述的第一转动连接片和第二转动连接片顶部呈开口向下的弧形，且其顶部均与固定夹套顶部下表面之间存在一定的间距。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种二极管探针测试夹。具备以下有益效果：