[实用新型]一种二极管改进型测试片

说明书

本实用新型公开了一种二极管改进型测试片，包括铜质测试片主体，所述铜质测试片主体的左侧中部为镂空，所述铜质测试片主体的左侧固定连接有测试片接触头，本实用新型涉及芯片测试片技术领域。该一种二极管改进型测试片，达到了将原有的一体测试片改为头部双片的结构，此时测试片头部的弹力增加，利用靠内侧的半边测试片与测试管脚进行接触测试，同时只使用测试片头部单边测试片，材料成本降低一半有效降低管脚的形变风险的同时，使测试片的寿命增加了一倍，减少生产成本的目的，达到了对二极管进行固定，防止接触不良，提高测试的准确性，当使用侧的测试片达到使用寿命或损坏时，调换另一侧继续使用，提高测试片的使用寿命的目的。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试片技术领域，具体为一种二极管改进型测试片。

背景技术

半导体分立器件的发展趋势越来越小型化，随着市场竞争的越发激烈，半导体芯片封测厂对于品质控制变得更加严格，半导体分立器件的品质控制一般分为电性能、外形尺寸、印章标识三个方面，而对于半导体器件的外形方面，除大批量的生产时成型设备的影响外，还存在成型后的测试、包装挤压、运输等方面的影响，对SOD123FL封装产品，因其管脚为平脚，批量生产时发现测试片的设计不合理(如尺寸、弹性)会对产品的管脚造成一定的形变，形变的同时由于长期受力较大进一步造成测试片寿命的缩短，因此，需要进一步改进SOD123FL测试片的常规设计方案，在减小测试片造成器件管脚形变的同时，降低测试片的损耗，节约材料成本。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种二极管改进型测试片，解决了现有的测试片会对产品的管脚造成一定的形变，且测试片长期受力进一步造成使用寿命缩短,且测试过程中，容易接触不良的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种二极管改进型测试片，包括铜质测试片主体，所述铜质测试片主体的左侧中部为镂空，所述铜质测试片主体的左侧固定连接有测试片接触头，所述铜质测试片主体的左侧靠近测试片接触头的一侧为折弯加强处，所述铜质测试片主体的右侧依次设置有大定位孔、小定位孔，所述测试片接触头的左侧设置有器件管脚接触点，所述铜质测试片主体的下方设置有测试板，所述测试板的右侧上下方均设置有安装孔，所述测试板的左侧设置有滑动槽，所述测试板的内部设置有移动块，所述移动块的左侧固定连接有压缩弹簧，所述压缩弹簧的左侧固定连接有挡板，所述挡板与测试板固定连接，所述移动块的左侧固定连接有移动杆，所述移动杆与挡板滑动连接，所述移动杆的左侧固定连接有工作台，所述工作台与滑动槽滑动连接，所述工作台的表面设置有压缩框，所述压缩框的内部固定连接有复位弹簧，所述复位弹簧固定连接有运动块，所述运动块固定连接有夹持杆，所述夹持杆与压缩框滑动连接，所述夹持杆位于压缩框外部的一端固定连接有夹持板。

优选的，所述大定位孔、小定位孔的数量均为两个。

优选的，所述大定位孔的直径为小定位孔直径的两倍。

优选的，所述测试片接触头的数量为两个。

优选的，所述夹持板的表面设置有保护垫。

优选的，所述压缩框的数量为两个。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种二极管改进型测试片。具备以下有益效果：