[实用新型]一种PCB板的双针式种针四线测试系统

说明书

本实用新型公开了一种PCB板的双针式种针四线测试系统。在过孔孔环和四线测试治具间设置四个探针，每两个探针作为一组在四线测试治具中连接同一条绕线，再进而连接到四线测试治具的输入测试端中。同一绕线对应的两个探针设置于过孔孔环同一直径的直线上，且四个探针等距离分布，确保了发生滑动时至少有一组探针能保持在过孔孔环中，减少滑动对测试效果产生的不良影响。

技术领域

本实用新型涉及PCB四线测试领域，特别是一种PCB板的双针式种针四线测试系统。

背景技术

目前，在PCB板生产过程中，过孔(又称VIA孔)电镀铜的情况好坏直接影响整块电路板的质量有重要影响，因此需要在电镀完成后对电镀铜孔的孔铜厚薄进行检测，如何设置测试探针对测试的准确性有很大的影响。现有技术中通常采用在过孔孔环上的设置两支探针的进行测试，但是由于探针只是与孔铜表面接触，容易在测试过程中滑动，使针头与过孔孔环接触不充分，导致测试效果不准。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种在过孔孔环中等距离设置四个探针，每两个探针作为一组在四线测试治具中连接同一条绕线，每组探针单独检测孔铜厚，减少一组探针滑动时对测试造成的影响。

本实用新型解决其问题所采用的技术方案是：一种PCB板的双针式种针四线测试系统，包括：过孔孔环和用于测试所述过孔孔环孔铜厚的四线测试治具；

还包括两端分别连接于过孔孔环和四线测试治具中的第一探针、第二探针、第三探针和第四探针；所述第一探针和第三探针与过孔孔环的连接处位于同一直径所在的直线上；所述第二探针和第四探针与过孔孔环的连接处位于同一直径所在的直线上；

所述第一探针、第二探针、第三探针和第四探针等距离连接于过孔孔环上。

进一步，所述过孔孔环的环宽大于或等于0.15mm。

进一步，所述过孔为开窗孔环。

进一步，所述第一探针、第二探针、第三探针和第四探针的直径为0.15-0.4mm。

进一步，所述四线测试治具中包括第一绕线和第二绕线。

进一步，所述第一绕线与第一探针和第三探针相连接，所述第二绕线与第二探针和第四探针相连接。

进一步，所述第一绕线连接于四线测试治具的电压测试输入端；所述第二绕针连接于四线测试治具的电流测试输入端。

进一步，所述四线测试治具中还包括治具线盘，所述治具线盘的厚度为15mm。

进一步，所述治具线盘中设置有与探针直径匹配的弹性套件。

进一步，所述第一探针、第二探针、第三探针和第四探针插于弹性套件内。

本实用新型的有益效果是：本实用新型采用一种PCB板的双针式种针四线测试系统。在过孔孔环处等距离设置四个探针，处于同一直径直线的探针连接四线测试治具的一端通过绕线相连接。相比起现有技术只设置两个探针的做法，本实用新型的探针等距离设置呈十字形分布，在探针朝一个方向发生滑动时，垂直方向的探针还保持在孔环中，有效减少了探针滑动对测试带来的影响。

附图说明

下面结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型一种PCB板的双针式种针四线测试系统的探针连接示意图；

图2是本实用新型一种PCB板的双针式种针四线测试系统的PCB板与治具连接示意图。

附图标号说明：

1.第一探针；2.第二探针；3.第三探针；4.第四探针；5.过孔孔环；6.治具线盘；7.第一绕线；8.第二绕线；9.弹性套件；10.四线测试治具。