[实用新型]一种亚纳秒激光脉冲对比度测量装置有效

专利信息
申请号: 201821446854.2 申请日: 2018-09-05
公开(公告)号: CN208721256U 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 夏彦文;孙志红;董军;张波;卢宗贵;元浩宇;刘华;傅学军;郑奎兴;粟敬钦;彭志涛 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 测量装置 激光脉冲对比度 倍频晶体 方形光束 时间记录 反射光 高功率超短激光脉冲 脉冲对比度 脉冲延迟器 亚纳秒量级 成像透镜 调节方便 激光脉冲 频率变换 分光镜 透射光 自相关 透射 投射 成像 会聚 采集
【权利要求书】:

1.一种亚纳秒激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的测量装置中,在高功率超短激光脉冲方形光束入射方向上设置有分束镜(1),入射脉冲光经分束镜(1)分成透射光和反射光;在分束镜(1)的透射光路上依次设置有反射镜Ⅰ(2)、光程调节机构(3)、反射镜Ⅱ(4);在分束镜(1)的反射光路上依次设置有反射镜Ⅲ(5)、脉冲延迟器(6)、倍频晶体(7);分束镜(1)的透射光经反射镜Ⅰ(2)反射到光程调节机构(3)上进行光程调节后投射到反射镜Ⅱ(4),分束镜(1)的反射光经反射镜Ⅲ(5)反射到脉冲延迟器(6)上,通过脉冲延迟器(6)后变为相互间存在固定时间延迟的一系列会聚激光脉冲串,所述的会聚激光脉冲串在倍频晶体(7)上会聚,形成上下等间距的水平线状光束串,所述的水平线状光束串与从反射镜Ⅱ(4)反射的方形光束同时投射到倍频晶体(7)进行频率变换,在倍频晶体(7)后形成上下等间距的水平线状倍频光束串;在倍频晶体(7)后的光路上依次设置吸收片(8)、成像透镜(9)、CCD(10);从倍频晶体(7)出射的基频光束被吸收片(8)吸收,从倍频晶体(7)出射的水平线状倍频光束串经过成像透镜(9)透射后传送到CCD(10),成像透镜(9)将倍频晶体(7)表面的水平线状倍频光束串成像到CCD(10)的探测面上;CCD(10)外接计算机,来自CCD(10)的信号最后进入计算机进行数据处理。

2.根据权利要求1所述的亚纳秒激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的脉冲延迟器(6)由三块元件构成;按顺序依次设置平板Ⅰ(6-1)、平板Ⅱ(6-2)、柱透镜(6-3);平板Ⅰ(6-1)安装在移动导轨(6-4)上,平板Ⅰ(6-1)和平板Ⅱ(6-2)相互间在竖直方向上呈一楔角放置;从反射镜Ⅲ(5)反射的光透过平板Ⅰ(6-1),在平板Ⅰ(6-1)和平板Ⅱ(6-2)的内表面间来回多次反射后从平板Ⅱ(6-2)透射出来,形成强度递减的、具有固定时间延迟的脉冲串,经柱透镜(6-3)会聚后,在柱透镜(6-3)焦面上形成一系列上下等间距的、相邻间具有固定时间延迟的水平线状光束串。

3.根据权利要求2所述的亚纳秒激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的平板Ⅰ(6-1)和平板Ⅱ(6-2)的外表面镀增透膜、内表面镀半透半反膜。

4.根据权利要求1所述的亚纳秒激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的倍频晶体(7)放置在柱透镜(6-3)的焦面位置,采用90度非共线Ⅰ类位相匹配。

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