[实用新型]卡托检测治具

说明书

本实用新型公开了一种卡托检测治具，卡托包括卡托本体、卡帽和滑轨，卡帽设在卡托本体的顶部，滑轨设在卡托本体的侧部，卡托可插入检测治具内，检测治具包括：本体部，本体部内限定出向前敞开的容纳槽，卡托的至少一部分容纳在容纳槽内；卡接头部，卡接头部设在本体部的顶部，卡接头部在前后方向上的厚度大于本体部的厚度，卡接头部内设有上下贯通的卡托孔，卡托孔与容纳槽相连通，卡托孔内设有限位部以限位卡帽，卡接头部的顶部设有与卡帽的顶面形状相配合的检测面。根据本实用新型的卡托检测治具，可以直观地检测出卡托与卡托检测治具的配合效果，简化了测量工作，提高了测量效率和测量准确度，操作简便、高效、可靠性高。

技术领域

本实用新型涉及电子设备技术领域，尤其是涉及一种卡托检测治具。

背景技术

在手机内的金属SIM卡托CNC(数控机床)加工工艺过程中，经常出现卡托的卡帽厚度尺寸偏差，且卡托的滑轨出现拐角披峰、台阶不良的现象，导致卡托与手机壳体卡托孔X向(即手机的宽度方向)配合尺寸有问题，例如出现卡托安装不到位、起翘、刮手等，故通常需要检测卡托帽的厚度以及导轨相关尺寸。

相关技术中，对SIM卡托的卡托帽厚度进行检测，采用二次元的设备进行单个检测，或者直接采用目视检验卡托的滑轨台阶是否平整，无法进行批量性检测，容易出现测量误差，效率低，且目视检验容易发生漏检。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本实用新型的提出卡托检测治具，所述卡托检测治具的检测效率高。

根据本实用新型的卡托检测治具，所述卡托包括卡托本体、卡帽和滑轨，所述卡帽设在所述卡托本体的顶部，所述滑轨设在所述卡托本体的侧部，所述卡托可插入所述检测治具内，所述卡托检测治具包括：本体部，所述本体部内限定出向前敞开的容纳槽，所述卡托的至少一部分容纳在所述容纳槽内；卡接头部，所述卡接头部设在所述本体部的顶部，所述卡接头部在前后方向上的厚度大于所述本体部在前后方向上的厚度，所述卡接头部内设有上下贯通的卡托孔，所述卡托孔与所述容纳槽相连通，所述卡托孔内设有限位部以限位所述卡帽，所述卡接头部的顶部设有与所述卡帽的顶面形状相配合的检测面。

根据本实用新型的卡托检测治具，通过利用卡托检测治具检测SIM卡托的卡帽厚度以及滑轨的相关尺寸，可以直观地检测出卡托与卡托检测治具的配合效果，简化了测量工作，提高了测量效率和测量准确度，避免出现目视漏检的现象，操作简便、高效、可靠性高。

根据本实用新型的一个实施例，所述限位部形成为沿着所述卡托孔的周向延伸的台阶面。

根据本实用新型的一个可选的示例，所述台阶面设在所述卡托孔内远离所述本体部的一侧，所述卡帽止抵在所述台阶面上。

根据本实用新型的另一个可选的示例，所述台阶面包括：中间段，所述中间段沿着所述卡托孔的长度方向延伸；两个弧形段，两个所述弧形段分别连接在所述中间段的两端。

根据本实用新型的又一个可选的示例，所述中间段与两个所述弧形段在周向上间隔开布置，两个弧形段的上端面与所述中间段的上端面位于同一水平面内。

根据本实用新型的再一个可选的示例，所述中间段包括沿所述卡托孔的长度方向间隔开排布的多个，多个所述中间段的上端面位于同一水平面内。

根据本实用新型的另一个实施例，所述卡托孔被构造为沿着所述卡接头部的长度方向延伸的条形孔。

根据本实用新型的又一个实施例，所述滑轨的顶部设有台阶，所述容纳槽的侧部设有悬空件，所述悬空件与所述容纳槽的内侧壁沿前后方向间隔开布置，所述滑轨可滑动地设在所述悬空件与所述容纳槽之间且所述滑轨的台阶止抵在所述悬空件上。