[实用新型]抓取装置及具有该抓取装置的电子芯片测试设备

权利要求书

1.一种抓取装置，用以抓取电子芯片，其特征在于，所述抓取装置包括：

把杆，具有内腔，所述内腔在所述把杆下端形成下端口；

吸盘，连接于所述把杆的下端口，所述吸盘底面开设有定位槽，所述定位槽与所述电子芯片的形状相匹配，所述定位槽的槽底开设有竖直贯通所述吸盘的吸风口，所述吸风口与所述内腔连通，所述吸盘采用绝缘材料制成；以及

抽气机构，设于所述内腔，所述抽气机构被配置为将所述吸盘下方的空气由所述吸风口抽至所述内腔而使所述吸盘下方形成负压，以使所述电子芯片通过所述负压吸附于所述定位槽。

2.根据权利要求1所述的抓取装置，其特征在于，所述定位槽与所述电子芯片在水平方向上的形状相同。

3.根据权利要求1所述的抓取装置，其特征在于，所述定位槽的槽深为所述电子芯片的厚度的0.5倍～1倍。

4.根据权利要求1所述的抓取装置，其特征在于，所述抽气机构包括：

风扇，设于所述内腔；

电机，设于所述内腔且传动连接于所述风扇，所述电机被配置为驱动所述风扇转动，并控制所述风扇的转速和转动方向；以及

电池，设于所述内腔且电连接于所述电机，所述电池被配置为对所述电机供电。

5.根据权利要求1所述的抓取装置，其特征在于，所述电子芯片的上表面设有第一标识，所述吸盘的上表面设有第二标识，所述第二标识相对于所述吸盘上表面的相对位置与所述第一标识相对于所述电子芯片上表面的相对位置相匹配。

6.根据权利要求1所述的抓取装置，其特征在于，所述吸盘顶部设有套管，所述套管与所述吸风口连通，所述套管可升降地套设于所述把杆的下端口中，以使所述吸盘可升降地连接于所述把杆的下端口。

7.一种电子芯片测试设备，包括测试板以及测试装置，所述测试板用于承载电子芯片，所述测试装置用于对所述电子芯片进行测试，其特征在于，所述电子芯片测试设备还包括权利要求1～6任一项所述的抓取装置。

8.根据权利要求7所述的电子芯片测试设备，其特征在于，所述测试板设有容纳所述电子芯片的芯片槽，所述芯片槽的槽底设有第三标识；其中，所述电子芯片的上表面设有第一标识，所述吸盘的上表面设有第二标识，所述第二标识相对于所述吸盘上表面的相对位置、所述第一标识相对于所述电子芯片上表面的相对位置相匹配及所述第三标识相对于所述芯片槽的相对位置均相匹配。

9.根据权利要求7所述的电子芯片测试设备，其特征在于，所述测试板上设有定位槽壁，所述定位槽壁与所述测试板共同界定一定位外槽；其中，所述抓取装置的所述吸盘底部的形状与所述定位外槽的形状相同。

10.根据权利要求7所述的电子芯片测试设备，其特征在于，所述测试板上设有定位槽壁，所述定位槽壁与所述测试板共同界定一定位外槽；其中，所述抓取装置的所述吸盘外周设有定位卡扣，所述定位卡扣被配置为与所述定位槽壁卡扣配合。